第一章x射线衍射物理学基础教程方案.ppt

X 射线衍射分析 一、X射线的发现 一、X射线的发现 吸收系数在一定区间内是连续变化的, 且随波长的增大而增大。 吸收系数在某些波长的位置上产生跳跃式的突变。 （2）质量吸收系数 当波长变化到?K时，质量吸收系数产生了一个突变，这是由于入射X射线的光量子能量达到激发该物质元素的K层电子的数值，而被吸收并引起二次特征辐射。 吸收突变 吸收限：吸收体因被激发产生荧光辐射而大量吸收入射X射线，此吸收突变处的波长称之为吸收限 2、吸收限的应用 ---X射线滤波片的选择 需要：kα 存在：kα、 Kβ 连续谱 滤波片：可获得单色光 滤波片的选择规律： 1、Z靶＜40，Z滤＝Z靶-1 2、Z靶＞40，Z滤＝Z靶-2 3、吸收限的应用 ---阳极靶材料的选择 为避免样品强烈吸收入射X射线产生荧光幅射，对分析结果产生干扰。必须根据所测样品的化学成分选用不同靶材的X射线管。原则是： Z靶≤Z样品+1 或 Z靶Z样品 　　应当避免使用比样品中的主元素的原子序数大2－6（尤其是2）的材料作靶材的X射线管。 例如: 铁(26)为主的样品，选用Co (27)或Fe靶,不选用Ni (28)或Cu (29)靶。 七、X射线的危害及防护 X射线设备的操作人员可能遭受电震和辐射损伤两种危险。 电震的危险在高压仪器的周围是经常地存在的，X射线的阴极端为危险的源泉。 辐射损伤是过量的X射线对人体产生有害影响。 小　结 2、X射线的产生 - K A X射线 X射线管 + 1、X射线的性质 3、X射线谱 连续X射线谱 特征X射线谱 4、 K系特征谱 K系特征谱 ： Kα、Kβ…… Kα：Kα1、Kα2 5、λ与Z的关系 莫色莱定律 6、X射线与物质的相互作用 散射、二次荧光、俄歇电子、光电子 7、X射线的吸收及其作用 靶材料的选择 滤波片的选择 1．名词解释：相干散射、不相干散射、吸收限。 2．X射线产生的基本条件是什么？ X射线的本质是什么？3．连续X射线的特点？ 4．如何选用滤波片的材料？5．特征X射线谱与连续谱的发射机制之主要区别何在？6．实验中选择X射线管以及滤波片的原则是什么？已知一个以Fe为 主要成分的样品，试选择合适的滤波片。 习　题 几何晶体学概述 1、晶体 晶体是内部质点在三维空间作规则排列的物质。 2、空间点阵（空间格子） 在研究晶体结构时一般只抽象出晶体的重复规律。这种抽象的图形，称为空间点阵。 空间点阵的要素 A、结点 B、行列 C、面网 D、单位点阵 E、点阵参数 3、晶系与布拉菲点阵 原始格子 底心格子 体心格子 面心格子 4、单位晶胞 基本矢量构成的平行六面体就称为单位晶胞：基本矢量a、b、c 及其夹角α,β,γ 反映晶体对称的最小单位。 单位晶胞在三个方向上重复即可建立整个空间点阵。 晶体结构=空间点阵 +结构基元 （二）、晶体学指数 1、晶格常数 平行六面体的三个棱长a、b、c 及其夹角α、β、γ 2、晶面和晶面指数 晶面：几何多面体的界面，晶格内部面网的反映。 （hkl）：表示一簇平面，称为晶面指数或米勒指数。 （hkl）是平面在三个坐标轴上截距倒数的互质比。 在坐标轴上的截距分别为2、3、6， 其倒数为1/2、1/3 、1/6， h:k:l=3:2:1。 因此，晶面指数（hkl）为(321)。 例 几点注意: A、晶面指数中第一、二、三位分别代表与X、Y、Z轴的关 系，它们之间不能随意变换。 B、一个晶面指数实际上是代表某个方向上的一组面，而不 是一个面。 C、对于高对称性的晶体来说，结晶学上等价的面具有相同 的指数，这些结晶学上的等价面就构成一个晶面族{hkl}。 D、当晶面指数中某个位置上的指数为0时，表示该晶面与 对应的晶轴平行。如（100）(001）。 3、晶向及晶向指数 OP的晶向指数为[123] 4、晶面间距d(hkl) 晶面间距是指两个相邻的平行晶面间的垂直距离。 通常用d(hkl)或简写为d来表示。 晶 晶 晶 5、晶面夹角 两个晶面之间的夹角。 若已知两晶面的晶面指数和晶胞棱长，就可根据公式计算出晶面夹角 * 需解决的问题 科研、生产、商业以及日常生活中，人们经常遇到这种问题：某种未知物的成分是什么？含有哪些杂质或有害物质？用什么方法来鉴定？ X射线衍射分析（简称XRD）的原理？仪器组成？样品要求？ XRD除物相分析外，还能检测分析物质的哪些性能？ 如何从XRD所给出的数据中提取更多的信息？（包括成分、结构、形成条件、结晶度、晶粒度等） §1 X射线物理基础 一、X射线的发现 二、X射线的性质 三、X射