【参考】纳米材料的电学性质和纳米粒子的表征.docxVIP

纳米材料的电学性质 在FS模型中，尺度对电阻率是有影响的。对于圆形细丝或截面方形丝，他们得到的电阻率与材料尺度关系的简化近似表达式为： (9.1) 其中是体材的电阻率，p是电子在表面镜面散射率，d是细丝的直径或方形的边长，l 是体材的平均自由程。 考虑晶界散射的MS模型，得到电阻率的公式为: (9.2) 其中 （9.3） R为反射系数，l仍是体材的平均自由程，d是晶界的平均距离。 为了能够所测定的Cu纳米丝的电阻率，Steinhogl等将这两种理论结合起来，他们在Matthiessen规则的基础上，认为总电阻率为综合弛豫时间所描述： (9.4) 其中为电子受到声子、电子和缺陷的背底散射的弛豫时间，和分别是表面和晶界散射的弛豫时间。利用综合模型，这些作者对他们所测定Cu纳米膜的电阻率随膜宽的变化进行了模拟，得到的结果如图中的实线所示，显然相当好地模拟了实验结果。Cu纳米膜的宽度为40-800nm，高为230nm，长为200微米。此外，他们也用综合模型模拟了77K、423K和573K三种温度下三种温度下电阻率随宽度变化的测定结果，也符合得相当好。图9.13中的虚线和点划线分别为FS和WS模型模拟的结果，显然都不能拟合实验数据，特别是FS模型相去甚远，图中最下面的点线是Cu体材的电阻率，它当然与材料的尺度无关。图9.13中的实线也是这些作者使用了