第1讲[1-1]数字系统测试发展概况2015.ppt

2006-5-7 VLSI测试和可测试性设计 EEHQU 6162369（O）edac@hqu.edu.cn 2006-5-7 内容 第一部分: 测试理论基础 数字系统测试发展概况 VLSI测试过程和设备 测试经济学和产品质量 故障模型 第二部分: 测试矢量生成---ATPG 逻辑和故障模拟 可测试性测量 组合电路ATPG 时序电路ATPG 存储器测试 IDDQ测试 第三部分: 可测试性设计（ DFT ） 扫描测试 BIST 边界扫描测试 模拟测试总线 2006-5-7 第一部分测试理论基础 1.1 数字系统测试发展概况 数字系统的测试是一个不缺少的重要环节。 系统测试的核心问题是确定施加什么样的激励，可以使故障激活（既使故障能够反映出来），同时能够在可及端测量出来。因此还要确定在什么地方施加机理，在什么地方进行测量。 最初的系统测试主要采用功能测试，如1953年Eckert所采用的BINCA计算机就是用两个相同的处理器同步进行工作，并随时进行比较，看其是否有相同的结果来判断是否有故障。 生成测试程序 测试仪 测试结果 施加激励 被测电路 观察响应 2006-5-7 器件测试是从最简单的组合电路开始的。Eldred在1959年提出了第一篇关于组合电路的测试报告。尽管它只是针对单级或两级组合电路中的固定故障测试，但是它已实际应用于第一代电子管计算机的测试，并揭开了数字系统测试的序幕。 Eldred指出：3输入或门，输入故障可采用输入矢量（100）、（010）和（001）测试，每个矢量还可检测输出端的s-a-0故障。为了检测输出端s-a-1故障，还需要增加输入矢量（000）。 Eldred提出的方法只解决了两级以内的组合电路测试问题。 D．B．Armstrong（1966）基于Eldred的基本思想提出了一维通路敏化方法。主要思想是对多级门电路寻找一条从故障点到可及输出端的敏化通路，以便在可及端可以观察到故障信号。 利用这种方法确实解决了相当多组合电路的测试问题。当时人们认为，非冗余的组合电路中任一故障信号都是沿某一条通路传输到可及端的。直到1976年，Schneider提出了一个反例，证明了某些故障信号只通过一条通路是不可能传输到可及输出端的，而必须同时沿两条或两条以上的通路传输，才能在可及输出端测试到故障信号。 2006-5-7 Schneider指出了一维通路敏化存在的问题，但是没有提出解决这个问题的方法。 实际上，罗思（Roth）于1966年提出的著名的D算法就已经考虑了故障信号向可及端传输的所有可能的通路（包括多通路传输）。 虽然以后对D算法有不少改进，但是都没有超出罗思的基本思想。从理论上说，组合电路测试在罗思的D算法中已达到最高点。在实际应用中，脱胎于D算法的PODEM算法和FAN算法已经臻于完善，达到完全使用阶段。 在罗思之后，Seller等提出的布尔差分法和Thayse提出的布尔微分法，虽然在实际应用中存在一定的困难，但是使通路敏化理论得到系统化，这两种方法在数字系统测试中也占有重要的地位。 罗思的D算法从理论上解决了组合逻辑电路的测试问题，即任何一个非冗余的组合逻辑电路中任意单故障都可以用D算法来找到测试它的测试矢量。但是在实际应用中还存在计算量大，难以应付大电路问题。虽然各种各样的改进方法在不同程度上提高了运算速度，但是总的计算工作量还是很大。 2006-5-7 Armstrong（1966）提出了enf（等效正则）法，其核心问题是寻找一个可检测电路内全部故障的最小测试集。 波格（Poage）和博森（Bossen）等提出了用因果函数来检测所有单故障和多故障的最小测试集，并在小型的组合逻辑电路测试中取得较好结果。 但是上述几种方法通常都要处理大量文字型数据，所需的工作量和计算机内存容量都比较大，因此对大型组合电路难以付付诸实用。 魏道政等提出的多扇出分支计算的主通路敏化法以及较为直观的图论法，在实际应用中显示出较大的优越性。 随着系统和电路规模的增大和元件集成度的提高，大型组合电路故障检测日趋迫切，对计算机速度要求越来越高，所需存储容量越来越大，使某些算法已失去实用价值，因此必须研究和探讨新的方法，或探索某一类器件的专用测试方法，例如：PLA器件的测试。过去认为没有实用意义的穷举法，随着电路规模的增大而有了新的发展，因为穷举法测试码产生非常简单，Archambeau等人提出的伪穷举法为穷举法用以解决大型组合电路的测试开拓了新的途径。 2006-5-7 时序电路测试比组合电路测试要困难得多，其主要原因是：（1）时序电路中存在反馈线；（2）存在存储元件；（3）时序元件。正因为时序电路测试存在上述三个难以解决的问题，因此它的测试理论和方法的研究进展一直比较缓慢，切实行之有效的方法也比较少