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实验一 逻辑门电路的逻辑功能及测试 一．实验目的 1． 2．a)TDS-4数电实验箱、双踪示波器、数字万用表。 b)1）CMOS器件： CC4011 二输入端四与非门 1 片 CC4071 二输入端四或门 1片 2）TTL器件： 74LS86 二输入端四异或门 1 片 74LS02 二输入端四或非门 1 片 74LS00 二输入端四与非门 1片 74ls125 三态门 1片 74ls04 反向器材 1片 三．预习要求和思考题： 1．预习要求： 1）复习门电路工作原理及相应逻辑表达式。 2）常用TTL门电路和CMOS门电路的功能、特点。 3）三态门的功能特点。 4）熟悉所用集成电路的引线位置及各引线用途。 5）用multisim软件对实验进行仿真并分析实验是否成功。 2．思考题 1）TTL门电路和CMOS门电路有什么区别？ 2）用与非门实现其他逻辑功能的方法步骤是什么？ 四．实验原理 1．本实验所用到的集成电路的引脚功能图见附录。 2．门电路是最基本的逻辑元件，它能实现最基本的逻辑功能，即其输入与输出之间 存在一定的逻辑关系。 TTL集成门电路的工作电压为“5V±10%”。本实验中使用的TTL集成门电路是双列直插型的集成电路，其管脚识别方法：将TTL集成门电路正面（印有集成门电路型号标记）正对自己，有缺口或有圆点的一端置向左方，左下方第一管脚即为管脚“1”，按逆时针方向数，依次为1、2、3、4············。如图1—1所示。具体的各个管脚的功能可通过查找相关手册得知，本书实验所使用的器件均已提供其功能。 图1—1 3．图1—2分别为基本门电路各逻辑功能的测试方法。 4.图1－3是为了理解TTL逻辑门电路多余端的处理方法。 5.图1－4为三态门逻辑功能测试。 五.实验内容及步骤 选择实验用的集成电路，按自己设计的实验接线图接好连线，特别注意Vcc及GND不能连接错。线连接好后经检查无误方可通电实验。 TTL门电路及CMOS门电路的功能测试。 将CMOS或门CC4071,TTL与非门74LS00、和或非门74LS02分别按图1-2连线：输入端Ａ、Ｂ接逻辑开关，输入端Ｙ接发光二极管，改变输入状态的高低电平，观察二极管的亮灭，并将输出状态填入表1-1中： 表1-1 输 入 A B 输 出Y1 CD4071 输 出Y2 74LS00 输 出Y3 74LS02 0 0 0 1 1 0 1 1 逻辑表达式 逻辑功能 2.TTL门电路多余输入端的处理方法： 将74LS00和74LS02按图示1-3连线后，A输入端分别接地、高电平、悬空、与B端并接，观察当B端输入信号分别为高、低电平时，相应输出端的状态，并填表1-2. 3.TTL三态门逻辑功能测试: 将TTL三态门74ls125和反相器按图1-4连线，输入端A、B、G分别接逻辑开关，输出端接发光二极管，改变控制端G和输入信号A、B的高低电平，观察输出状态，并填表1-3. 表1-2 输 入 输 出 A B 74LS00Y1 74LS02Y2 接地 0 1 高电平 0 1 悬空 0 1 A、B并接 0 1 表1-3 G A B Y 表达式 0 0 0 1 1 0 1 1 0 1 1 0 五．实验报告 1．