04-高分子科学导论-高分子的表征与分析分析.pptVIP

X-射线衍射 X-ray diffraction, XRD 偏光显微镜 Polarizing optical microscope, POM 高分辨透射/扫描电子显微镜 Transmission electron microscopy,TEM Scanning electron microscopy, SEM 原子力显微镜 Atomic force microscopy, AFM 扫描隧道显微镜 Scanning tunneling microscopy, STM Morphology 在高聚物物相、结晶度、晶粒择优取向和晶粒尺寸的研究中，X 射线衍射（X-ray diffraction）方法具有不损伤样品、无污染、快捷、测量精度高、能得到有关晶体完整性的大量信息等优点，成为直观判断结晶状况的实证。 X-ray diffraction 偏光显微镜是研究晶体形态的有效工具之一，许多重要的晶体光学研究都是在偏光镜的正交场下进行的，即起偏镜与检偏镜的振动平面相互垂直。在正交偏光镜间可以观察到球晶的形态，大小，数目，生长速率及光性符号等。 Polarizing optical microscope Transmission electron microscopy 透射电镜（TEM） 利用TEM可以观测高分子聚合物及其复合材料的微观结构，形状及分布。 Carbon nanot