材料方法-第3章-XRD-1.pptVIP

X射线与物质的相互作用 X射线与物质的相互作用，是一个比较复杂的物理过程。 一束X射线通过物体后，其强度将被衰减，它是被散射和吸收的结果，并且吸收是造成强度衰减的主要原因。 * X射线的散射 任何带电粒子作受迫振动时将产生交变电磁场，从而向四周辐射电磁波，其频率与带电粒子的振动频率相同。 由于散射线与入射线的波长和频率一致，位相固定，在相同方向上各散射波符合相干条件，故称为相干散射。 相干散射是X射线在晶体中产生衍射现象的基础X射线经束缚力不大的电子（如轻原子中的电子）或自由电子散射后，可以得到波长比入射X射线长的X射线，且波长随散射方向不同而改变。这种散射现象称为康普顿散射或康普顿一吴有训散射,也称之为不相干散射，是因散射线分布于各个方向，波长各不相等，不能产生干涉。 * 不相干散射 不相干散射在衍射图相上成为连续的背底，其强度随（sinθ/λ）的增加而增大，在底片中心处（λ射线与底片相交处）强度最小，α越大，强度越大。 这种波长改变的散射现象 和它的定量关系遵守量子理论的规律，因此称为量子散射。  * 小结 相干散射 因为是相干波所以可以干涉加强. 只有相干散射才能产生衍射,所以相干散射是X射线衍射基础 不相干散射 因为不相干散射不能干涉加强产生衍射,所以不相干散射只是衍射的背底 * X射线的吸收 物质对X射线的吸收，是指X射线通过物质时光子的能量变成了其他形式时能量。 有时将X射线通过物质时造成的能量损失称为真吸收。 X射线通过物质时产生的光电效应和俄歇效应，使入射X射线的能量变成光电子、俄歇电子和荧光X射线的能量，使X射线强度被衰减，是物质对X射线的真吸收过程。 * 光电效应 ---光电子和荧光X射线 * 光电效应1 激发K系光电效应时，入射光子的能量必须等于或大于将K电子从K层移至无穷远时所作的功WK 式中VK以V为单位。下面两式非常相似，但物理意义完全不同。前者说明连续谱的短波限λ0随管电压的增高而减小，而后者说明每种物质的K激发限波长都有它自己特定的值。 从X射线激发光电效应的角度，称λK为激发限；然而，从X射线被物质吸收的角度，则称λK为吸收限。 * 光电效应2----- 俄歇效应 俄歇（Auger，M.P.）在1925年发现，原子中K层的一个电子被打出后，它就处于K激发状态，其能量为EK。如果一个L层电子来填充这个空位，K电离就变成L电离，其能量由EK变成EL，此时将释放EK-EL的能量。释放出的能量，可能产生荧光X射线，也可能给予L层的电子，使其脱离原子产生二次电离。即K层的一个空位被L层的两个空位所代替，这种现象称俄歇效应. 从L层跳出原子的电子称KLL俄歇电子。每种原子的俄歇电子均具有一定的能量，测定俄歇电子的能量，即可确定该种原子的种类，所以，可以利用俄歇电子能谱作元素的成分分析。不过，俄歇电子的能量很低，一般为几百eV，其平均自由程非常短，人们能够检测到的只是表面两三个原子层发出的俄歇电子，因此，俄歇谱仪是研究物质表面微区成分的有力工具。 * 光电效应2----- 俄歇效应 * 一束强度为I0的X射线束，通过厚度为H的物体后，强度被衰减为IH。 实验证明，X射线透过物质时引起的强度衰减与所通过的距离成正比 X射线的衰减规律 * X射线的吸收曲线 X射线通过物质时的衰减，是吸收和散射造成的。 如果用σm仍表示散射系数，τm表示吸收系数。在大多数情况下吸收系数比散射系数大得多，故μm≈τm。质量吸收系数与波长的三次方和元素的原子序数的三次方近似地成比例 * 吸收限的应用 ---X射线滤波片的选择 在一些衍射分析工作中，我们只希望是kα辐射的衍射线条，但X射线管中发出的X射线，除kα辐射外，还含有Kβ辐射和连续谱，它们会使衍射花样复杂化。 获得单色光的方法之一是在X射线出射的路径上放置一定厚度的滤波片，可以简便地将Kβ和连续谱衰减到可以忽略的程度。 * 滤波片的选择规则 1： Z靶＜40时，Z滤＝Z靶-1； 2： Z靶＞40时，Z滤＝Z靶-2 * 滤波片 常用靶材及其匹配的滤波片的数据列入表1-1。按表中厚度制作的波滤片，滤波后Kβ/Kα的强度比为1/600。如果滤波片太厚，虽然Kβ可以进一步衰减，但kα也相应衰减。实践表明，当Kα强度被衰减到原来的一半时，Kβ/Kα的强度比将由原来的1/5降为滤波后的1/500左右，这对大多数衍射分析工作已经满意。在滤波片材料选定之后，可按需要的衰减比用公式（1-14）计算滤波片的厚度。 * 阳极靶材料的选择 大量的荧光辐射会增加衍射花样的背底，使图象不清晰。避免出现大量荧光辐射的原则就是选择入射X射线的波长，使其不被样品强烈吸收，也就是选择阳极靶材料，让靶材产生的特征X射线波长偏离样品的吸收限。 根据样品成分