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17 COMS IC工艺流程

Figure 7 - 半导体制造技术 西安交通大学微电子技术教研室 第十七章 COMS IC 制造工艺流程 目 标 通过本章的学习,将能够: 1. 画出典型的亚微米 CMOS IC 制造流程图; 2. 描述 CMOS 制造工艺14个步骤的主要目的; 4. 讨论每一步 CMOS 制造流程的关键工艺。 CMOS工艺流程中的主要制造步骤 CMOS 制作步骤 1. 双井工艺 2. 浅槽隔离工艺 3. 多晶硅栅结构工艺 4. 轻掺杂漏(LDD)注入工艺 5. 侧墙的形成 6. 源/漏(S/D)注入工艺 7. 接触孔的形成 8. 局部互连工艺 9. 通孔1和金属塞1的形成 10. 金属1互连的形成 11. 通孔2和金属2的形成 12. 金属2互连的形成 13. 制作金属3、压点及合金 14. 参数测试 一、双井工艺 n-well Formation 1)外延生长 2)厚氧化生长 保护外延层免受污染;阻止了在注入过程中对硅片的过渡损伤;作为氧化物屏蔽层,有助于控制注入过程中杂质的注入深度。 3)第一层掩膜 4)n井注入(高能) 5)退火 p-well Formation 1)第二层掩膜 2) P井注入(高能) 3)退火 二、浅曹隔离工艺 STI 槽刻蚀 1)隔离氧化层 2)氮化物淀积 3)第三层掩膜,浅曹隔离 4)STI槽刻蚀 (氮化硅的作用:坚固的掩膜材料,有助于在ST

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