XRD技术与应用.pptVIP

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  • 2017-05-12 发布于天津
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XRD技术与应用.ppt

* 举例 某样品经X射线粉末多晶衍射仪(CuK?线,?=0.154 nm)检测后的衍射谱图显示其(003)衍射峰的布拉格角?为7.5?,半高宽为1.1?,仪器宽化为0.4?,则该样品的晶粒大小计算如下: ?(2?)=1.1?-0.4?=0.7?=0.01222弧度 D(003) =(0.94?0.154)/(0.01222?cos7.5?)=11.9 nm * 四、结晶度分析 在高分子材料性能研究中,结晶度通常是一个很重要的参数。结晶度是指非晶态物质析出晶相过程中,结晶完整程度及含量的测定。 随着材料中某些晶相的析出,材料中原子的排列逐渐有序化,其衍射峰逐渐从弥散变为明锐,衍射峰的半高宽逐渐变窄,晶面间距减小,因此由晶面间距的测定可推出结晶度。 * XC:结晶度; ?IC:所有晶态衍射峰累积强度总和; ?IA:所有非晶态衍射弥散峰累积强度总和; K:实验条件有关的常数。 Note1:K值的大小与实验条件、测量的角度范围以及晶态与非晶态的比值有关,而与结晶度无关,通常由实验来测定。 Note2:如何划分晶态和非晶态的衍射强度曲线是一个还没有完全解决好的问题,现在采用计算机拟合的方法来划分,可以得到比较好的结果,但由于设定的拟合条件不同,可能会带来较大的误差。 * 石墨化的过程就是非晶炭逐步晶化以及由不完整结晶逐步向高结晶度转变的过程

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