第3节干扰的类型与抑制解答.ppt

第四章 原子吸收分光光度分析法 一、物理干扰及抑制非选择性的 二、化学干扰及抑制有选择性的 化学干扰的抑制 化学干扰的抑制 三、电离干扰 待测离子发生电离反应，生成离子，不产生吸收，总吸收强度减弱，电离电位≤6eV的元素易发生电离，火焰温度越高，干扰越严重，（如碱及碱土元素）。 抑制： 消电离剂—加入大量易电离的一种缓冲剂以抑制待测元素的电离。 例：加入足量的铯盐，抑制K、Na的电离。 Sc——Sc＋ ＋ e K+ + e ——K 利用强还原性富燃火焰 标准加入法 提高金属元素的总浓度也是减少或消除电离干扰的基本方法。 四、光谱干扰及校正方法 2.背景干扰校正方法 （3）塞曼(Zeeman)效应背景校正法——适用于石墨炉原子化 第三节 干扰及其抑制 atomic absorption spectrometry,AAS 试样在转移、蒸发过程中由于物理因素变化引起的干扰效应，如粘度、表面张力、蒸汽压等，主要影响试样喷入火焰的速度、雾化效率、雾滴大小等。 可通过控制试液与标准溶液的组成尽量一致的方法来抑制。 稀释：减小粘度的影响； 标准加入法； 加入有机溶剂，减小表面张力 指待测元素与其它组分之间的化学作用所引起的干扰效应,主要影响到待测元素的原子化效率，是主要干扰源。 待测元素与其共存物质作用生成难挥发的化合物，致使参与吸收的基态原子减少。 例：a、钴、硅、硼、钛、铍在火焰中易生成难熔化合物 b、硫酸盐、硅酸盐与铝生成难挥发物。 通过改变实验条件或在标准溶液和试液中加入某种光谱化学缓冲剂来抑制或减少化学干扰： （1）改变火焰类型：使用高温火焰——使在较低温度火焰中稳定的化合物在较高的温度下解离。 （2）改变火焰特性：--改变燃气和助燃气的比例。 例：强还原性气氛火焰更有利于难熔、难挥发氧化物的元素。 （3）释放剂—与干扰元素生成更稳定化合物使待测元素释放出来。 例：锶和镧可有效消除磷酸根对钙的干扰。 （4）保护剂—与待测元素形成稳定的络合物，防止干扰物质与其作用。 例：加入EDTA生成EDTA-Ca，避免磷酸根与钙作用。 （5）饱和剂（缓冲剂）—加入足够的干扰元素，使干扰趋于稳定。 例：用N2O—C2H2火焰测钛时，在试样和标准溶液中加入300mgL-1以上的铝盐，使铝对钛的干扰趋于稳定。 (6)采用标准加入法 待测元素的共振线与干扰物质谱线分离不完全，这类干扰主要来自光源，主要有以下几种： 1.吸收线重叠干扰—两种以上元素的吸收线重叠。 可以通过调小狭缝、选用被测元素的其他分析线或者预先分离干扰物质来抑制这种干扰。 2.非吸收线光谱干扰——可能是待测元素的其他共振线或非共振线，也可能是光源中电极材料或杂质产生的干扰。 选用较小的光普通带；选用较小的灯电流或者更换灯。 3.直流发射干扰 消除干扰的措施： 将发射的光调制成一定频率；检测器只接受该频率的光信号； 原子化过程发射的非调频干扰信号不被检测； 在原子化过程中，原子受到辐射跃迁到激发态后，处于不稳定状态，将再跃迁至基态，故既存在原子吸收，也有原子发射。但返回释放出的能量可能有多种形式，产生的辐射也不在一个方向上，但对测量仍将产生一定干扰。 五、背景干扰 背景干扰主要是指原子化过程中所产生的光谱干扰，主要有分子吸收干扰和散射干扰，干扰严重时，不能进行测定。 1. 分子吸收与光散射 分子吸收：原子化过程中，存在或生成的分子对特征辐射产生的吸收。分子光谱是带状光谱，势必在一定波长范围内产生干扰。 光散射：原子化过程中，存在或生成的微粒使光产生的散射现象。 产生正偏差，石墨炉原子化法比火焰法产生的干扰严重 如何消除？ (2) 氘灯连续光谱背景校正——所有的原子化方法都适用 旋转斩光器交替使氘灯提供的连续光谱和空心阴极灯提供的共振线通过火焰； 连续光谱通过时：测定的为背景吸收(此时的共振线吸收相对于总吸收可忽略)；AD=Ab(D)+Aa（D)=Ab(D) 共振线通过时，测定总吸收； AH=Ab(H)+Aa（H) 差值为有效吸收； AH－AD=Ab(H)+Aa（H)－ Ab(D)＝Aa (1) 双线校正法 A共振线＝A原子＋A分子； A非吸收线＝A分子 A原子=A共振线－A非吸收线 Zeeman效应：在磁场作用下简并的谱线发生裂分的现象； 校正原理：原子化器加磁场后，随旋转偏振器的转动，当平行磁场的偏振光通过火