CHROMA6000测试程式项目分类.ppt

C6000測試程式項目分類 一般測試 ： 1. Input/Output 2. Dynamic 3. Sync Dynamic 12. Hold on adjust 14. Static 25. Sync Dynamic2 Regulation 測試 ： 4. Load REG. 5. Cross REG. 6. Line REG. 7. Combine REG. 20. Total REG. Timing 測試 ： 8. Turn on 9. Hold up 15. Extra Timing 保護測試 ： 10. OLP 11. OPP 18. Short circuit 19. OVP/UVP 特殊測試 ： 13. EXT Wave 17. EXT Meas. 21. Cycle dropout 22. Vin ramp 23. Fin ramp 24. AC Noise C.T. INPUT/OUTPUT TEST ( 1 ) INPUT/OUTPUT TEST ( 2 ) Iinrms :待測物的輸入電流均方根值 Pin :待測物的輸入實功率 Pdc :待測物總輸出功率 Eff :效率（用％表示） Eff= ( Pdc / Pin ) X 100% Pf :待測物輸入端功率因素 Pf= Pin / (Vin(rms) X Iin(rms) ) Delay Time =當前項並沒有重大變化時，時間可以設稍短一點，約0.5sec即可 Meas. Time =必須要設3sec左右 Dynamic Test (1) 動態特性測試 用以量測待測物在動態負載條件下的輸出特性 Dynamic Test (2) PERIOD-1 與 PERIOD-2系用SA內的振盪器產生的，其誤差為100ppm,所以任何兩部SA間的偏差有可能到200ppm,因此對多組輸出的電源供應器若需要負載同步變化時，建議使用同步動態特性測試（Sync Dynamic Test) Dynamic Test (3) Sync Dynamic Test 同步動態特性測試 本測試之 “PERIOD-1” 及 “PERIOD-2” 係由第一組之SA產生並供給其他各組之SA以達到各組負載皆能同步的狀態。 第一組SA背板25Pin D-Type接頭的Pin 1要接到所有其他SA背板同一接點的Pin 14，以達到各部Switcher Analyzer的負載同步變化的效果。 Sync Dynamic 2 同步動態測試2 本項測試和同步動態測試過程相同,惟有量測值略有不同，量測的資料 Vpk(H)、Vpk(L)、Vspike(H)、Vspike(L)的定義如左圖 Hold On Adjust Test 在線電壓調整 允許在線調整待測物的內部線路以達到正確的輸出電壓或 OLP跳脫點。 本項測試過程中在調整迴圈時SA一直量測Vdc並將之上傳給電腦。 Static Test (1) Static Test (2) Delay time:視前項參數有無太大變動，而去設定Time的長短 Meas. Time:本項不量測輸出量測值，所以可視SPS而定，設定時間的長短。 在S/A量測中每5ms讀取一次，連續8次所得之平均值，顯示在屏幕上、解析度14bit 在設定Slew rate方面，建議當負載大於3A時Slew rate 設為0.1A/μs ，負載小於3A時 Slew rate 設為0.01A/ μs . Load Regulation Test (1) 負載效應測試 用以檢測待測物某一組輸出，在其他各組輸出的負載保持固定時，給予三種不同負載大小，其電壓的反應特性 Load Regulation Test (2) Delay time 一般設為0.5sec即可，依Power特性可以設得更短，甚至0.1sec Load Regulation 一般先由 I/R-1 中載 ，再 I/R-2 重載 ，最後 I/R-3 輕載 dV(+) 及dV(-)可設百分比值 Vdc Max及Vdc Min SPEC 一般設定±5% Cross Regulation (1) 交叉負載效應測試 用以量測當待測物中其他組輸出電源的負載變化時對某 一特之輸出電壓的影響。 Cross Regulation (2