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半导体光电子器件课程梳理
Chap 1 绪论
1. 半导体激光器的发展
第一发展阶段——同质结构注入型激光器(二十世纪60年代初)
特点:对注入的载流子和光场没有限制,阈值电流密度高,只能在液氮和脉冲状态下工作
第二发展阶段——单异质结注入型激光器(二十世纪60年代末)
特点:利用异质结提供的势垒把注入电子限制在GaAS P-n结的结区内,降低阈值电流密度
第三发展阶段——双异质结注入型激光器(二十世纪70年代初)
特点:1)窄带隙的有源区两侧的宽带隙材料对注入的载流子有限制作用;
2)有源区为高折射率材料,两侧包层是低折射率材料,形成的光波导能够将光场的大部分限制在有源区内,从而减小阈值电流密度。
第四发展阶段——量子阱激光器(二十世纪80年代初)
半导体物理研究的深入及晶体外延生长技术的发展(包括分子外延MBE,金属有机化学气相沉积MOCVD和化学束外延CBE),使得量子阱半导体激光器研制成功。
2. 半导体激光器的特点
? 小而轻、转换效率高、省电、寿命长;
? 制造工艺与电子器件和集成电路工艺兼容,便于实现单片光电集成;
? 半导体激光器的激射功率和频率可直接调制;
? 激射波长范围宽。
3. 半导体激光器的应用
光通讯、光存储、固体激光器的泵浦源、激光器武器、3D显示
4. LEDs 的应用
交通指示、照明、背光源、屏幕显示、投影仪光源、汽车、医疗、闪光灯、栽培、防伪。
Chap 2 异质结半导体
异质结的定义:由两种基本物理参数不同的半导体单晶材料形成的晶体界面(过渡层)。
1.异质结的能带图
(1)pN异质结的能带图
φ-功函数,χ-电子亲和势
尖峰的位置与pN结两边的掺杂浓度有关:p区掺杂比N区多时,尖峰位于势垒的顶端,称为高势垒尖峰;p区掺杂比N区少时,尖峰位于势垒的根部,称为低势垒尖峰
(2)nN同型异质结的能带图
2. 异质结的参数
平衡态下内建电场强度
耗尽区内电中性条件
内建电势差
内建电势差分配比
故
(由于带边的不连续,内建电势差不再代表势垒的总高度了。)
空间电荷区宽度
3. 异质pN结的伏安特性
(1)扩散模型
电流-电压方程
对于pN型异质结, 型异质结,△Ec??△Ev都是正值,而且一般远大于k0T,故JnJp,表明通过异质结的电流主要由电子电流组成,空穴电流占很小的比例。
(2)热电子发射模型
忽略由p向N的电子,则电流密度可表示为:
()
(3)尖峰隧穿模型
总电流= 热电子发射电流+电子隧穿电流
4. 异质结的特性
(1)高注入比:pn结在正向偏压时,n区向p区注入的电子流和p区向n区注入的空穴流之比。
式中,△E=△Ec+△Ev=Eg2-Eg1,Eg2和Eg1分别表示宽带N区和窄带p区的禁带宽度。Dnp、DpN、Lnp、LpN相差不大,都在同一数量级,而exp(△E/k0T)1,说明注入比很大,即使NDN NAp,注入比仍然很大。
(2)超注入现象
因为EcpEcN,所以将出现,此时被称为超注入。
超注入现象是异质结特有的另一个重要的特性,在半导体异质结激光器中得到重要的应用,它可使窄带区的注入少数载流子浓度有非常大提高,从而容易实现异质结激光器所要求的粒子数反转条件。
(3)异质结对载流子和光场的限制作用
Eg越大,折射率越小。
异质结的双限制效应:
Chap 3 半导体激光器
1. 半导体激光器的工作原理
(1)直接/间接带隙材料中的光跃迁过程
(2)跃迁选择定则
直接跃迁:
能量守恒
动量守恒,kL可以忽略不计所以
间接跃迁:
能量守恒≈
动量守恒≈
有电子、光子和声子参与的间接跃迁是二级微扰过程,跃迁几率比直接跃迁小得多 接跃迁小得多,因此,间接带隙材料不能用来做发光材料。
(3)光过程
自发辐射:不受外界因素作用,处于高能态的电子自发地、随机地跃迁到低能态,与空穴复合而发射光子,特点为发射的光子能量相同,但方向、位相、偏振等均不相同,是一种非相干光。(LED原理)
受激辐射:是指受激发而处于高能级的电子在外界的诱发作用下,跃迁到低能级与空穴复合而发射的辐射,特点为发射光子的方向、频率、位相、偏振等均与诱发光相同,是一种相干光。在激光器中,诱发高能级的电子向低能级跃迁的光来自自发辐射。。(LD原理)
受激吸收:处于低能级的 HYPERLINK /view/21855.htm \t _blank 原子(El),受到外来 HYPERLINK /view/9448.htm \t _blank 光子的激励下,在满足 HYPERLINK /view/14394.htm \t _blank 能量恰好等于低、高两 HYPERLINK /view/52083.htm \t _blank 能级之差(△E)时,该原子就 HYPERLINK /vie
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