1056硅表研究.pptVIP

* * 包括以下类型仪表： 型号 差异 磷表 硅表 联氨表 试剂 钒钼酸铵溶液 试剂1：硫酸溶液 试剂2：钼酸铵溶液 试剂3：草酸溶液 试剂4：硫酸亚铁铵溶液 对二甲氨基苯甲醛 测量周期 4分钟（最短） 60分钟（最长） 10分钟（最短） 60分钟（最长） 5分钟（最短） 60分钟（最长） 量程及误差 (0～20)mg/L 误差：±2%FS （0～200）μg/L;（0～2000）μg/L 误差：±2%FS （0～200）μg/L 误差：±2%FS 光源和比色皿 光源：405nm（紫光） 比色皿长度：25mm 光源： 820nm（红光） 比色皿长度：50mm；25mm 光源： 450nm （蓝光） 比色皿长度：50mm；25mm * 仪器由电气系统和流路系统组成。电气系统位于箱体的上部，下部为流路系统。 一、电气系统 电气系统包括：电源板、主板+液晶显示器、信号板、电流输出板、控制板、继电器板主板、按键面板。 二、流路 流路系统包括：进样针型阀、溢流杯、标液杯、计量混合杯、光度计组件、排污电磁阀、精密计量泵。 * 硅、磷、联氨仪表外观基本相同，硅表流路系统如下图： * Q J J J J 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 15 15 16 17 1、硫酸试剂 2、钼酸铵试剂 3、酒石酸试剂 4、还原剂 5、精密计量泵 6、搅拌泵 7、标液瓶 8、校准阀 9、定容杯 10、计量阀 11、反应杯 12、混合阀 13、光度计 14、排污阀 15、排放 16、测量水样 17、溢流杯 硅表流路系统图 * * 光电比色原理——朗伯-比尔（Lambert-Beer）定律 测定硅酸根含量的化学反应基理： 在pH值为1.1～1.3的条件下，水中的溶硅与钼酸铵生成黄色硅钼络合物，用还原剂把硅钼络合物还原成硅钼蓝，根据硅钼蓝的最大吸收波长，通过光电比色法测量硅酸根的含量。 理论依据 * 关键技术介绍 1、空白校准的作用 任何电路都不可避免地会产生漂移现象，如果仪表产生了漂移，就会影响测 量数值的真实性，为了消除电路漂移对测量值产生的影响，所有比色类仪表均设 置了空白校准功能。空白校准的理论依据是：无论水的硅含量是多还是少，是纯 水还是普通水，在未加入任何试剂之前其透光度非常好，且十分稳定。基于这一 事实。无论何时，向仪表倒入空白水时其所测量的电压值理论上应该是一样的， 如果不一样，那就说明是仪表产生了漂移（通常称为空白漂移）。电压差越大说 明漂移越大。实际应用中，曲线校准的第一项为空白。测量时先测一下空白，如 果两个空白值产生差异，则说明漂移的存在，记录此差值，并按一定的方法计算 出差值的大小，并在显示测量数值时补偿上。则显示值即为真实值，不受漂移的 影响。 * 2、本底补偿 本底补偿是硅酸根监测仪所特有的一项功能。可以将此项功能设为“开”或 “关”。 设置此功能的原因是： 我们校准仪表所用的标准液是以零硅水为基础的，而在现实当中，根本就没有零 硅水的存在，无论我们怎么努力 ，硅离子还是存在于水中，所以我们所做的标准 除了添加的含量外还有水中原本就有的硅含量，即实际的硅离子浓度总比理论的 硅离子浓度高，并且由于水中所含硅离子的浓度是一个未知量，所以并不能肯定 高出多少，那么在测量时也就不能测得真实的硅含量。 本底补偿功能是通过用标准液对仪表进行的校准，因为理论上，校准时各点 均应该在一条直线上，但是由于零点是倒加药，不受本底硅的影响，而其它各点 均是正加药，受本底硅的影响。就造成了曲线的不线性，本底硅越高，则这种不 线性越明显，根据不线性的程度，换算成一定的浓度值，再在测量时进行补偿， 这就是本底补偿功能的意义所在。 * 通过两种已知标准液的增量标定及化学零点标定，实现未知无硅水中本底硅浓度的精确测量。 有效解决由本底硅浓度带来的误差问题。不考虑本底硅，曲线1出现了非线性，而且会造成测量值的误差。 * 仪表性能指标 相同指标： 示值误差：±2%FS 重复性： 不大于1% 稳定性： 基线漂移：使用空白校准，检测不出 化学漂移：不大于1%读数/月（视试剂稳定性而异） 样品条件: 流量：(150～300)mL/min 温度：（5～50）℃ 压力：（14～140）KPa 水样允许固体成分：不大于5微米（不允许有胶状物出现） 环境温度：（5～45）℃ 环境湿度：不大于90%（无冷凝） 试剂消耗：最多3升/30天（3分钟采样一次），视采样周期而定。 显 示：