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2013 Taiwan AOI Forum Show 11場IC檢測、智慧影像、彈性AOI專題演講 │ 40項前瞻AOI檢測技術發表 │ 35 Booths元件模組展示 AOI論壇展覽集結技術開發者、模組/元件供應者、設備製造者、設備使用者於一堂，進行產經與技術交流，並提供產業上、中、下游的社群互動機會。 日　　期：102年10月17日（星期四） 地　　點：新竹市大學路1號，交通大學電子資訊中心大樓 費　　用：每人NT$3,000，優惠AOIEA會員每人NT$2,000（入會免費，請先入會再報名） 立即入會 click 線上報名活動 click 下載地圖資訊 click 議　　程： 專題演講 國際會議廳 :00 ~ 10:10 開幕 10:10 ~ 10:50 從半導體終端應用解析本土化策略 台積電 楊棋銘副處長 10:50 ~ 11:30 電子束IC檢測技術 漢微科 葉蒼濬經理 11:30 ~ 13:30 用餐，參觀34個攤位展示及25篇技術論文海報 論文海報在位解說時段12:30~13:30 新品發表 國際會議廳 第四會議室 13:30 ~ 13:40 Dalsa P4系列高感光彩色相機及高穩定均勻性光源介紹 / 泰洛 Basler ace camera series / 新加坡Basler 快速開發的機器視覺系統/ 研華 13:40 ~ 13:50 四維光場技術-工業與科學之新應用 / 高識能 頂尖高速伺服器馬達控制平台/ 新亞洲儀器 USB3.0的產品及應用實績 / 一寶實達 13:50 ~ 14:00 NIR 光譜相機及機器視覺用光學濾光片 / 五鈴光學 扭力限制器 / 德商台灣開天傳動 14:00 ~ 14:10 休息 休息 休息 專題演講 國際會議廳/彈性AOI 第一會議室/IC檢測 第四會議室/智慧影像 14:10 ~ 14:50 機器人視覺應用方案介紹 台灣安川 黃啟昌協理 半導體檢測設備開發實例 旭東機械 陳文彬副總 以Xtion為出發談智慧影像趨勢 華碩電腦 楊姿慧產品經理 14:50 ~ 15:00 休息 休息 休息 15:00 ~ 15:40 精密光學量測技術之發展與應用 台灣大學 陳亮嘉教授 半導體檢測分析案例 汎銓科技 廖興盛處長 以視覺為基礎之智慧型安全監控技術 交通大學 莊仁輝教授 15:40 ~ 15:50 休息 休息 休息 15:50 ~ 16:30 彈性精密檢測技術發展方向 工研院 戴鴻名博士 3DIC檢測技術 工研院 顧逸霞博士 Human machine interface 工研院 王浩偉博士 論文海報：應用結構光系統於3D表面量測、雷射盲孔高精度尺寸量測技術、晶圓暫時貼合界面膠厚度量測、利用單一相機作2.5D之IC檢測、頂針式探針 Pogo pin 外觀尺寸量測分析、軟性顯示器機械強度之信賴性檢測、顯示器面型頻譜量測系統、白光LED黃圈量測系統之發展、平板裝置無線控制偏光產生器、適用於刑事鑑定之指掌紋兩用拍攝裝置開發、一結合非線性濾波器之影像邊緣提取演算法、基於相似度辨識之工業級視覺定位技術、智慧化車用安全顯示系統之研究、AOI 視覺影像技術於電路板元件檢測之應用、積體電路之封裝膠體自動瑕疵檢測系統、利用多組特徵樣板圖形進行IC晶片瑕疵定位及檢測之技術、功率電感表面瑕疵檢測方法、建立非接觸式探針模組、高速機器視覺偕同六軸機器手臂之流道物件整列技術、降低反射式血氧濃度計移動假影的方法、影像照明輔助引導脊椎手術、多視角數位影像量測系統量測真空波紋管表面形貌、數位影像式精密模具對位技術開發、應用於災防之瞬時土方量影像量測技術、GPS即時嵌入遙測影像系統之方法 展出廠商：Basler、一寶實達、工研院、中和碁電、五鈴光學、日商大都電子、台灣開天傳動、丞基技研、光藝、兆鎂新、先鋒科技、欣懋科技、研華、美商國家儀器、泰洛科技、高識能、晶毓科技、晶讚光電、新亞洲儀器、新耀光、碁仕科技、睿怡科技、銓州光電、曜宇科技、羅昇企業 洽詢電話： 03 574-3813、573-2225，AOIEA秘書處