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RT2级大纲
特种设备无损检测Ⅱ级人员考核大纲
（射线检测部分）
第一章通用知识中的专业基础知识
1 射线检测的物理基础
1.1原子与原子结构
1.1.1元素与原子（A）
1.1.2核外电子运动规律（A）
1.1.3原子核结构（A）
1.2射线的种类和性质
1.2.1 χ射线和γ射线的性质（B）
1.2.2 χ射线产生及其特点
（1）连续谱的产生和特点（B）
（2）标识谱的产生和特点（A）
1.2.3 γ射线的产生及其特点（B）
1.2.4 射线的种类（A）
1.3射线与物质的相互作用
1.3.1光电效应（B）
1.3.2康普顿效应（B）
1.3.3电子对效应（A）
1.3.4瑞利散射（A）
1.3.5各种相互作用发生的相对概率（A）
1.3.6窄束、单色射线的强度衰减规律（B）
1.3.7宽束、多色射线的强度衰减规律（A）
1.4射线照相法的原理与特点
1.4.1射线照相法的原理（C）
1.4.2射线照相法的特点（C）
2 射线检测设备及器材
2.1 χ射线机
2.1.1 χ射线机的种类和特点
（1）χ射线机的分类（B）
（2）携带式χ射线机的技术进展（A）
2.1.2 χ射线管
（1）结构和种类：普通χ射线管、金属陶瓷管（B） 特殊用途管（A）
（2）技术性能
①阴极特性和阳极特性（B）
②管电压（B）
③焦点（B）
④辐射场的分布（B）
⑤真空度（A）
⑥寿命（C）
2.1.3高压发生电路
（1）半波整流电路（B）
（2）全波整流电路（A）
（3）倍压整流电路（A）
（4）全波倍压恒直流电路（A）
2.1.4 χ射线机的基本结构（B）
2.1.5 χ射线机的主要技术条件（A）
2.1.6 χ射线机的使用、维护和修理
（1）χ射线机操作程序（C）
（2）χ射线机的使用注意事项（C）
（3）χ射线机的维护和保养（C）
（4）χ射线机的常见故障（A）
2.2 γ射线机
2.2.1 γ射线源的主要特性参数（A）
2.2.2 γ射线探伤设备的特点（B）
2.2.3 γ射线探伤设备的分类与结构（A）
2.2.4 γ射线探伤机的操作（B）
2.2.5 γ射线探伤设备的维护和故障排除（B）
2.3射线照相胶片
2.3.1射线照相胶片的构造与特点（B）
2.3.2感光原理及潜影的形成（A）
2.3.3底片黑度（C）
2.3.4射线胶片的特性
（1）特性曲线（C）
（2）特性参数（B）
2.3.5卤化银粒度对胶片性能的影响（A）
2.3.6胶片的光谱感光度（A）
2.3.7工业射线胶片系统的分类（B）
2.3.8胶片的使用与保管（C）
2.4射线照相辅助设备器材
2.4.1黑度计（光密度计）（B）
2.4.2增感屏（C）
2.4.3像质计（C）
2.4.4其他照相辅助设备器材（C）
3 射线照相灵敏度的影响因素
3.1射线照相灵敏度的影响因素
3.1.1 概述（A）
3.1.2射线照相对比度
（1）对比度公式的推导（A）
（2）对比度的影响因素
①影响主因对比度的因素（B）
②影响胶片对比度的因素（A）
3.1.3射线照相清晰度
（1）几何不清晰度Ug（C）
（2）固有不清晰度Ui（B）
3.1.4射线照相颗粒度（B）
3.2 灵敏度和缺陷检出的有关研究
（1）最小可见对比度△Dmin（A）
（2）射线底片黑度与灵敏度（A）
（3）几何因素对小缺陷对比度的影响（A）
4 射线透照工艺
4.1透照工艺条件的选择
4.1.1射线源和能量的选择
（1）射线源的选择（A）
（2）χ射线能量的选择（B）
4.1.2焦距的选择
（1）焦距与射线照相灵敏度的关系（C）；
（2）焦距与被检工件的几何形状及透照方式的关系（B）
（3）焦距与总不清晰度的关系（A）
4.1.3曝光量的选择和修正
（1）曝光量的推荐值（C）
（2）互易律、平方反比定律和曝光因子（C）
（3）曝光量的修正计算
①利用曝光因子的曝光量修正计算（C）
②利用胶片特性曲线的曝光量修正计算（A）
4.2透照方式的选择和一次透照长度的计算
4.2.1透照方式的选择（C）
4.2.2一次透照长度的计算
（1）透照厚度比K值与一次透照长度的关系（C）
（2）直缝透照一次长度的计算（C）
（3）环缝单壁外透法一次长度的计算（C）（此要求宜针对图表法而非公式法）
（4）环缝单壁内透法一次长度的计算（C）（此要求宜针对图表法而非公式法）
（5）环缝双壁单影法一次长度的计算（C）（此要求宜针对图表法而非公式法）
4.3曝光曲线的制作及应用
4.3.1曝光曲线的构成和使用条件（C）
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