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1. acceptance testing (WAT: wafer acceptance testing) V; n/ D3 _* p. G/ R$ P0 L2. acceptor: 受主，如B，掺入Si中需要接受电子 2 M6 v% o# I/ y# I* N, L3. ACCESS：一个EDA（Engineering Data Analysis）系统 : F( @! I* n/ w ] T$ P??E4. Acid：酸 . g* y??h# O4 I1 t, H, ^5. Active device：有源器件，如MOS FET（非线性，可以对信号放大） C) z+ B* x+ ~. _ ]/ N6. Align mark(key)：对位标记 , S4 D. p4 M L; c8 z5 _7. Alloy：合金 7 @5 C% m4 O d7 [7 g z4 a8. Aluminum：铝 b. ~+ ^+ c, g8 a9. Ammonia：氨水 0 s6 Z/ s* Z, ?0 Z4 {6 K- ^10. Ammonium fluoride：NH4F E3 _; E+ ]??F O11. Ammonium hydroxide：NH4OH # h# v4 v- s. y* Y# M12. Amorphous silicon：α-Si，非晶硅（不是多晶硅）