CONNECTOR ORT 实验办法Rev004(2009.08.10待发行).docVIP

 TIME \@ h:mm am/pm 8:10 上午世窗 第 PAGE 3頁 東莞泰碩電子有限公司 DONG GUAN TAISOL ELECTRONIC CO., LTD CONNECTOR ORT 實驗辦法 文件編號: WD-3-I-125 製定單位:品保部 版 本: 004 總頁數: 3頁 製定日期:2009年08 月10日 發行日期:2009年08 月15日  1.目的： 1.1確保產品的可靠性與最初的設計規格相一致。 1.2驗証產品的成熟與穩定性。 1.3 ORT(On-going Reliability Test)實驗是監測產品信賴性的程式。 2.範圍： 此辦法分二個部分： 2.1在量產階段通過年度測試檢驗。 2.2其他驗証需求(如客戶需求) 3.ORT實驗方法及取樣計劃： 3.1量產品年度測試頻率 a.插拔耐久、插拔力、接觸阻抗(導通性)測試：年產量(製造部月報累加為准)不足1KK時，一年測試一次﹔年產量(製造部月報累加為准)超出1KK的，每1KK或半年測試一次 b.其他信賴性測試項目：年產量(製造部月報累加為准)滿1KK時，1KK時測試1次，2KK時測試1次，2KK後每2KK測試1次; 量產品年產量不足1KK的，以上項目均不作年度抽樣測試。。 C.量產品量產時間超出1年且年產量超出2KK的，以上項目均每年測試1次。 3.2信賴性測試的時機依製造部產量月報確定; 3.3其他要求: a．依仁寶要求X IN 1 CONN，在量產前,量產10K,量產100K均須做一次信賴性測試,之後每1000K做一次信籟性測試,並做相關測試記錄信賴性測試。 b．依CANON要求，I-MODEL CONN每500K作一次信賴性測試 c. 依mitac要求，產品每600K作一次信賴性測試 d. 其他客戶有需求時以與客戶協商頻率為準. 4. 測試項目測試樣品數量標準如下: 項 次測試時機樣品數量說 明插 拔 耐 久 測 試正常耐久1.新產品B/C TEST 2.量產品年度測試 3.客戶要求 4.設變要求6PCS依協會規範MS12000次 其他的均為10000次非 正 常 插 卡正面插卡2PCS各卡1000次反面插卡2PCS各卡100次倒插卡2PCS各卡100次倒反插卡2PCS各卡100次側面插卡2PCS各卡100次破壞性插拔卡2PCS各卡100次下限仿卡PIN接觸阻抗SWITCH導通性所有耐久樣品耐電壓測試1.新產品A/B TEST 2.量產品年度測試6PCS絕緣阻抗測試鹽霧實驗1.量產品年度測試， 2.電鍍規格變化.5PCS跌落測試1.新產品B2 TEST 2.量產品年度測試1小箱/1卷軸依跌落測試規範測試5. 申請作業步驟: a.測試需求部門填寫品保部DQE測試申請通知單 b. DQE測試申請通知單須含內容: 試產單號、樣品名稱及料號、版次,送樣時機及日期,實驗目的,樣品來源,測試項目、樣品模穴號配對及概述.有需要時備注其他內容如是否涉及特殊客戶(DELL、Wistron、Lenovo…etc.)之測試規范.. c. 品保部DQE測試申請通知單核準權限:申請部門課長(含)以上;測試部門經理(含)以上 d.送樣原則：量產品設變耐久 跌落測試樣品由PE送樣，年度測試耐久測試樣品由DQE直接至倉庫領樣,跌落測試樣品由DQE通知PE送樣，其他由測試需求部門送樣 e.須??相應資料:如設變內容,量測數據和樣品圖面等 6. 實驗異常處理： a. ORT測試屬年度抽樣的,合格率100%方為達標. b. ORT實驗一旦發生異常，立刻知會相關部門(RD/PE/PQE/SQE/PM),召開檢討會議,提出解決方案. 7. 改善執行與追蹤： 根據改善對策，責任單位需將改善後之樣品再次送樣，DQE對改善對策執行狀況做追蹤，改善狀況無效，重提改善對策，以及重新分析問題原因，並回饋資訊給DQE,直到改善OK.驗証合格後結案. 7.1若改善對策有效，須追蹤至 ECR、DCR 開立﹔ 7.2若確定 NG 項目，無法改善，附無法改善之會議決議，並有 RD、業務、PM、PE、QE 出