测试治工具定期校验规范.docVIP

PAGE  測試治工具周期檢驗規范核 准審 核撰 寫周紅裕適用范圍:工廠內測試線和OQC所使用之測試工治具 文件編號本頁修改次數頁 次PCQM-03-AR60 -  PAGE 6 - 文 件 名 稱測試工治具周期檢驗規范 文件編號PCQM-03-AR6 文 件 修 訂 履 歷版次修 訂 內 容 與 理 由修訂頁次修訂日期V1.0初版發行1/6 . 一.目的 　　避免廠內測試工治具使用時間過久，而造成不能正常測試,影響產品品質，特制訂工治具定期校驗規范加予管制,確保測試品質。 二.適用範圍 　　工廠內測試線和OQC、CQC所使用之測試治工具皆屬之。 三.定義 3.1 使用周期：這裡指測試工治具從發放開始使用日???報廢日所經歷的最大有效天數，它由測試工治具材料本身及使用頻率決定。 3.2 檢驗周期：這裡指測試工治具在使用周期內，指定日期對其進行校驗，校驗OK，可繼續使用；校驗FAIL,則進行維修。 3.3 測試工具：由廠外購買回來，不需要加工，直接可以投入使用之測試物品。如CPU、HDD、K/B、DDR等。 3.4 測試治具：由MTE自行制作，或由MTE提供規格委託外包廠加工之測試物品，如聲卡治具、LOOPBACK治具、線材等。 四.權責 4.1 MTE治具維護課: MTE治具維護課人員負責測試治具制作,發放,維修和定期校驗之執行。 　　4.2 ME設備維修課：負責測試工具購買,發放,維修和定期校驗之職責。 4.3 生產線和OQC、CQC:測試治工具之使用,並按照此檢驗規范定期對測試治工具進行相關校驗。 4.4 IPQC:稽核測試線及OQC是否按照此規范內容作業。 五.內容 5.1 測試治具的檢驗 　　　MTE治具維護課對所制作測試治具必須貼上制作日期和使用日期，填寫附件一 ＜＜測試治工具制作及檢驗標簽＞＞。 　　　5.1.1　CPU腳座校驗 CPU腳座校驗標准請依照MTE測試注意事項工作指導書(文件編號：PCQM-03-T00I)第3.6項 CPU使用操作注意事項與保養及其風扇搭配。 2/6 　　　5.1.2　Memory、AGP、PCI、AMR(CNR)轉接腳座檢驗 　　　　　　Memory、AGP、PCI、AMR(CNR)轉接腳座由生產線人員每班次自行檢驗一次，如出現FAIL,則送治具維修課進行修理，無法修復的則立即更換，並填寫測試工具每日檢查表(附件二)。檢驗內容如下： Memory、AGP、PCI、AMR(CNR)轉接腳座金手指部分檢驗請按照5.3金手指檢驗標准檢驗。 Memory、AGP、PCI、AMR(CNR)轉接腳座功能檢驗則在OK板上對相應的功能測試三次，如均OK，表示該腳座功能正常,如三次測試均FAIL，則做不良治具送修，如測試不穩定則找MTE隨線技術員確認：Memory腳座檢驗核對Memory值，如正確則OK;AGP腳座檢驗插上AGP顯卡，在WINXP下測試如無花色擋機則OK;AMR(CNR)腳座則進行AMR(CNR)功能測試，如測試PASS則OK。　 C. Memory、AGP、PCI、AMR(CNR)轉接腳座每個月上旬分批送MTE治具維修課進行檢驗，對以達到使用壽命周期的轉接腳座進行更換。檢驗標准請參照附件測試治具使用、校驗周期評估一覽表。　 　　　　　　AGP腳座檢驗標準 1.）測量使用經過校驗合格的電子游標卡尺測量（如圖一）。 　2.）測量AGP腳座的部位:AGP保護腳座的金手指（如圖二）。 　3.）測量必須從不同部位測量﹐測量時注意動作的正確與讀數的方法。 　　3.1) 測量第一部位時,游標卡尺與金手指平行,且游標卡尺壓在金手指銅皮上(如圖三).　 3.2) 測量第二部位時為AGP腳座的另一頭。 　圖一　　　　　　　　　　圖二　　　　　　　　　　圖三　 3/6 3.3) 測量中間部位時可斜著測量但需注意游標卡尺與腳座接觸良好,中間無縫隙. 3.4) 以上部位均需測試三次后﹐取最大值。 4.) 測量每個部位所得之最大值,必須在規定范圍內,則為良品,任何一部位測量值超過標准范圍則為不良品。　　　　 　5.）AGP腳座的可使用之標准范圍為1.62MM-1.68MM。 　6.）AGP腳座生產線使用的由生產線人員按照以上標准自行檢驗；倉庫庫存AGP腳座由ME設備維修課檢驗OK，貼上OK標簽後，再發給生產線使用。 　　　　　　AGP腳座使用注意事項 　　　　　　1.）所有帶AGP槽的主板測試時要使用對應的AGP