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定性分析 定量分析 半定量分析 需进行使样品溶液化的前处理 第五节 ICP发射光谱分析方法 一、光谱定性分析 由于各种元素的原子结构不同,在光源的激发作用下,试样中每种元素都发射自己的特征光谱。 光谱定性分析一般多采用摄谱法。 试样中所含元素只要达到一定的含量,都可以有谱线摄谱在感光板上。摄谱法操作简单,价格便宜,快速。它是目前进行元素定性检出的最好方法。 (一)元素的分析线与最后线 每种元素发射的特征谱线有多有少(多的可达几千条)。当进行定性分析时,只须检出几条谱线即可。 进行分析时所使用的谱线称为 分析线。如果只见到某元素的一条谱线,不可断定该元素确实存在于试样中,因为有可能是其它元素谱线的干扰。 检出某元素是否存在必须有两条以上不受干扰的最后线与灵敏线。 灵敏线 是元素激发电位低、强度较大的谱线,多是共振线。 最后线 是指当样品中某元素的含量逐渐减少时,最后仍能观察到的几条谱线。它也是该元素的最灵敏线。 定性分析 要确认试样中存在某个元素,需要在试样光谱中找出三条或三条以上该元素的灵敏线,并且谱线之间的强度关系是合理的;只要某元素的最灵敏线不存在,就可以肯定试样中无该元素。 I Nmhν K’NmN0e-Em/ kT 1 在一定的实验条件下: I aC 2 a为常数,C为目的元素的浓度 考虑某些情况下有一定程度的谱线自吸, 对 2 加以修正: I aCb 3 b为自吸系数, 一般情况下b≤1。在ICP光源中多数情况下b≈1。 谱线强度与浓度的关系 定量分析 工作曲线法 标准样品的组成与实际样品一致 在工作曲线的直线范围内测定 使用无干扰的分析线 定量分析 标准加入法 测定范围的工作曲线的直线性 溶液中干扰物质浓度必须恒定 应有1-3个添加样品 使用无干扰的分析线 进行背景校正 半定量分析 半定量分析 有些样品不要求给出十分准确的分析数据,允许有较大偏差,但需要尽快给出分析数据,这类样品可采用半定量分析法。 ICP光源的半定量分析尚无通用方法,因仪器类型和软件功能而异,应用不广泛。 灵敏度 、检出限、背景等效浓度 灵敏度:S dX/dc 单位浓度变化所引起的响应量的变化,它相当于工作曲线的斜率 检出限: ICP光谱分析中, 能可靠地检出样品中某元素的最小量或最低浓度. 背景等效浓度 BEC :与背景信号相当的浓度。 ICP-AES光谱仪的特点 优点: 多元素同时分析 灵敏度高(亚ppb~) 分析精度高,稳定性好(CV 1%) 线性范围宽(5~6个数量级) 化学干扰极低 溶液进样、标准溶液易制备 应用领域十分广泛 1 钢铁及其合金分析:碳钢,高合金钢,低合金钢,,铸铁,铁合金等. 2 有色金属及其合金:纯铝及其合金,纯铜及其合金,铅合金,贵金属,稀土金属等. 3 环境样品:土壤,水体,固体废物,大气飘尘,煤飞灰,污水等. 4 岩石和矿物.地质样品. 5 生物化学样品:血液,生物体. 6 食品和饮料:粮食,饮料,点心,油类,茶,海产品. 7 化学化工产品: 8 其它无机材料和有机材料. 9 核燃料和核材料. ICP-AES可测定的元素 ICP-AES不便测定的元素 卤族元素中溴、碘可测,氟、氯不能测定. 惰性气体可激发,灵敏度不高,无应用价值. 碳元素可测定,但空气二氧化碳本底太高. 氧,氮,氢可激发,但必须隔离空气和水. 大量铀,钍,钚放射性元素可测,但要求防护条件 应用范围 常量分析0.X%--20% 微量分析 0.00X%---0.X% 痕量分析:0.0000X%---0.000X%,一般需要分离和富集, 不宜用于测定30%以上的,准确度难于达到要求. ICP发射光谱分析中的干扰 物理干扰 化学干扰 电离干扰 光谱干扰 干扰的校正 基体匹配 可消除物理、电离干扰。注意不纯物的混入。 内标校正 可消除物理干扰。注意内标元素的选择 电离电位 。 背景校正 谱线干扰的校正 选择无干扰的谱线 干扰系数法校正谱线干扰 稀释样品 建立分析方法的一般步骤 1 取样和样品保存 要求:有代表性 均匀性,取样量,位置,深度 ,不污染 2 样品处理:称样量 浓度,测试样含盐量 , 定容体积;酸种类,碱熔融 测定Si,氧化铝 。 3 选择分析线:选择灵敏线与次灵敏线,检察干扰情况,选择扣背景方式,干扰校正? 4 检查基体效应:无基体;匹配法,内标法 5标准系列的制备:浓度范围,逐级稀释法,搭配法,加基体? 标样法,单标混和法。 6分析参数优化:目标函数 有DL,SBR, BEC,RSD 7 准确度:比较法,加标回收 * 试样多数不需经过化学处理就可分析,且固体、液体试样均可直接分析,同时还可多元素同时测定,若用光电直读光谱仪,则
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