1实验一 基本门电路逻辑功能的测试.pptVIP

实验一 基本门电路逻辑功能的测试 ;三、实验原理 ;图1-2逻辑图及外引线排列;　　1．双列直插式集成芯片引脚排列规则： 正对集成电路型号或看标记（左边的缺口或小圆点标记），从左下角开始按逆时针方向以1，2，3…依次排列到最后一脚。 在标准形TTL集成电路中，电源端Vcc一般排在左上端，接地端（GND）一般排在右下端，如74LS00。 若集成芯片引脚上的功能标号为NC，则表示该引脚为空脚，与内部电路不连接。 ;　　２．多余输入端的处理　　 　　对于与非门,其输入中任一个为低电平“0”时，输出便为高电平“1”。只有当所有输入都为高电平“1”时，输出才为低电平“0”。 　　对于TTL逻辑电路，输入端如果悬空可看做；逻辑1，但为防止干扰信号引入，一般不悬空，可将多余的输入端接高电平或者和一个有用输入端连在一起。 　　对MOS电路输入端不允许悬空。 　　对于或非门，闲置输入端应接地或低电平，也可以和一个有用输入端连在一起。 ;四、实验内容及方法 1．逻辑功能测试 　①与非门逻辑功能的测试 　将74LS20插入实验台14P插座，注意集成块上的标记，不要插错。 　将集成块Vcc端与电源+5V相连，GND与电源“地”相连。 　选择其中一个与非门，将其4个输入端A、B、C、D分别与四个逻辑开关相连，输出端Y与逻辑笔或逻辑电平显示器相连，如图1-2。根据表1-1中输入端的不同状态组合，分别测出输出端的相应状态，并将结果填入其中。;表1-1 ;　　②或非门逻辑功能的测试 　　将74LS02集成芯片按照上述方法插入实验台的14P插座，选择其中一个或非门，将其输入端与逻辑电平相连，输出端与逻辑电平显示器相连，如图1-3。根据表1-2中输入端的不同状态组合，分别测出输出端的相应状态，并将结果填入其中。 ;③与或非门逻辑功能的测试 ;2．传输性能和控制功能的测试 　　参照图1-5，从74LS00芯片中选取一个2输入与非门，A输入端接频率为1Hz的脉冲信号，B输入端接逻辑电平开关，输出端Y接示波器。用双踪示波器同时观察A输入端的脉冲波形和输出端Y的波形，并注意两者之间的相位关系。按表1-4的要求测试，并将结果填入表中。 ;　　参照图 1-6，从74LS02芯片中选取一个2输入或非门，A输入端接频率为1Hz的脉冲信号，B输入端接逻辑电平开关，输出端Y接示波器，将测试结果填入表1-5。 ;　　参照图 2-7，将74LS54集成芯片将其输入端2、12、13分别与四个逻辑电平相连，输入端1接频率为1Hz的脉冲信号，其余输入端接地，输出端与逻辑电平显示器相连。按表2-6的要求测试，并将结果填入表中。 ;五、实验要求 　　1．画出规范的测试电路图及各个表格。 　　2．记录测试所得数据，并对结果进行分析。 　　３．试写出74LS54集成电路的逻辑函数表达式。