X射线的多晶衍射分析及其应用.pptxVIP

第5章 X射线的多晶衍射分析及其应用结构物相晶体取向晶体的完整程度劳埃法周转晶法四圆衍射仪单晶衍射分析X射线衍射分析照相法衍射仪法物相内应力织构多晶衍射分析目录X射线衍射仪X射线物相定性分析晶体结构识别粉末衍射线的宽化及晶粒大小的测定聚合物和高分子材料分析纳米材料分析聚合物纳米复合材料分析粘土矿物分析一、X射线衍射仪X射线衍射仪构造：X射线衍射发生装置测角仪辐射探测器记录单元及附件X射线发生装置—X射线管 X射线产生条件：电子流、高压、真空室、靶面A、B-梭拉缝；C-样品；E-支架 F-接收光阑；G-计数管；H-样品台 O-测角仪中心；K-刻度盘S-管靶焦斑；T-入射光阑测角仪： X射线衍射仪的核心部分 Bragg－Brentano衍射几何设计原理：R1＝R2，试样转θ 角，探测器转2θ 角（ 2θ / θ偶合），或试样不动，光管转θ，探测器转θ （ θ /θ偶合） X射线强度越高，输出电流越大，脉冲峰值与X射线光子能量成正比，所以正比计数器可以可靠地测定X射线强度。计数器：记录衍射强度的重要器件，由计数管及其附属电路组成。正比计数器（气体电离计数器）：NaI闪烁计数器：具有低背底（0.4cps）、高线性范围2×106 cps；新型YAP晶体闪烁计数器的线性范围高达1×107cps。Si(Li)计数器：具有极佳的能量分辨率。可选择特定能量的光子进行响应。背景小于0.01cps。一个X射线光子造成的电子—空穴对的数目为N，N＝ΔE／ε。ΔE：X射线的特征能量；εo产生一个空穴对的最低平均能量。计数电路：将探测器接收的信号转换成电信号并进行计量后输出可读取数据的电子电路部分。 探测器：将 X 射线转换为电脉冲前置放大器：阻抗变换主放大器：放大波高分析器：脉冲选择，滤去过高和过低的脉冲计数率仪：将脉冲信号转化为正比于单位时间内脉冲数的直流电压。定标器是对甄别后的脉冲进行计数的电路。定标器有定时计数和定数计时两种方式。X射线管发出单色X射线照射在样品上，所产生的衍射由探测器测定衍强度，由测角仪确定角度2?，得到衍射强度随2 ?变化的图形。X射线衍射仪的常规测量样品的制备基本原则：注意问题包括晶粒大小、试样的大小及厚度、择优取向、加工应变和表面平整度等。对于粉末样品，颗粒度大小在5～15μm范围最佳；选择参比物质时，尽可能选择晶粒小于5 μm，吸收系数小的样品。如MgO、Al2O3、SiO2等；将粉末样品装填在铝或玻璃制的特定样品板的窗孔或凹槽内，用量一般为1-2 g，以填满样品窗孔或凹槽为准。装填粉末样品时不可太用力，以免形成粉粒的定向排列。用平整光滑的玻璃板适当压紧，然后将高出样品板表面的多余粉末刮去，如此重复一两次即可。具有片状或柱状完全解离的样品物质，其粉末一般都呈细片状，在制作过程中易形成择优取向。对于此类物质，对粉末进行长时间（如半小时）的研磨，使之尽量细碎，制样时尽量轻压，必要时还可在样品粉末中掺和等体积的细粒硅胶。对于薄膜样品，需要注意薄膜的厚度。XRD适合较厚的薄膜样品的分析。要求样品具有较大的面积，比较平整以及表面粗糙度要小。这样获得的结果才具有代表性。可将其锯成窗孔大小一致，然后用橡皮泥或石蜡直接将其固定在窗孔内，应注意使固定窗孔内的样品表面与样品板平齐。材料状态鉴别：实验参数：防散射光栏与接收光栏应同步选择。通常，定性方向时选用1°发散狭缝，研究低角度出现的衍射峰时，选择1°/2 （或1°/6 ）为宜。时间常数RC。计数率仪记录的强度是一段时间内的平均计数率，这段时间间隔称为时间常数。要提高测量精度应该选择小的RC值。在物相分析中RC通常1～4s。扫描速度是指探测器在测角仪圆周上均匀转动的角速度。在物相分析中通常扫描速度为2～4?/min。扫描方式为连续扫描和步进扫描。连续扫描常用于物相分析，步进扫描常用于精确测量衍射峰的强度、确定衍射峰位、线性分析等。原始数据的初步处理：由一些常用的衍射图处理程序集成，主要有5项：平滑处理；减背景；求面积、重心、积分宽；寻峰；衍射图比较（多重衍射图的叠合显示）衍射数据的获得：晶面间距（d）和衍射强度（I）X射线衍射图谱：峰形、峰位、峰高二、X射线物相定性分析物相定性分析基本原理：物质的X射线衍射花样特征是分析物质相组成的“指纹或者脚印”。制备各种标准单相物质的衍射花样并使之规范化(数据库)，将待分析物质(样品)的衍射花样与之对照，从而确定样品物质的组成相，这就是物相定性分析的基本原理与方法。 PDF卡片结构编号 三强线对应的面间距 最大面间距 物质的矿物名称或普通名称关于可靠性5.所用的试验条件6. 物质的晶体学数据7.物质的光学及其它物理性质8.试样来源,制备方式及化学分析数据9.晶面间距对应的晶面指数及相对强度PDF的检索---从元素周期表查晶体结构元素周期表索引自动检索