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电极箔与导针制铆连接的接触电阻测量问题.doc
电极箔与导针制铆连接的接触电阻测量问题
互相接触电流接触点时呈现的电阻称为接触电阻。
电阻、和组成
集中电阻:在显微镜下观察一对接触件的接触,可以发现,接触面在微观上并非绝对光滑,含有突起部分,导致整个接触面的接触,而是散布在接触面上一些点的接触。实际接触面必然小于理论接触面。根据表面光滑程度及接触压力大小,两者差距有的可达几千倍。显现出的电阻称为集中电阻。
:
膜间电阻:由于接触表面膜层及其他污染物所构成的膜层电阻。
实际测量电连接器接触件的接触电阻时,都是在接点引出端进行的,故实际测得的接触电阻还包含接触表面以外接触件和引出导线本身的导体电阻。导体电阻主要取决于金属材料本身的导电性能,它与周围环境温度的关系可用温度系数来表征。
对于与制铆连接形成的接触电阻,过程中的退让电极箔与导针舌面印花之间存在微小空隙,接触面的少量是其的主要因素。电极箔和导针本身的导体电阻也是数据的影响因素。
与导针制铆连接如。
一、仪器
2512B直流低电阻测试仪、耐压电容22μF、400V、正极箔规格F0590B0006、负极箔FB000H30-0006)3个、低耐压电容(330F、50V、正极箔规格FJ0072B0010FB2R5H50-0010)芯子
二、操作步骤
1. 开机预热
2. 调整至mΩ量程清零
3. 拆开,电极箔平放在工作台上,电流驱动端D+,D-引线相连,电压检测端S+电极箔接触,舌面而不与之接触S-与导针舌面印花接触。
4. 仪器显示数据较平稳时记录数据。
电压检测端S+电压检测端S-
电流驱动端D+电流驱动端D-
、过程中发现的问题
过程操作人员在测量接触电阻电压检测端S+导针舌面距离把握,距离的变化会导致测量数据的变化测量数据不够准确
改进方案:在工作台上加刻尺度表,操作人员在测量时能够且的定位工作台是一铸铁上固定了一块绝缘板,在绝缘板上没有标示距离的标志,在绝缘板上刻方格表,每个方格长宽各为对照绝缘板上的方格进行定位测量,能够使测试数据更加。
后测量笔保持开路状态放置在桌上,使测试端长时间开路20mΩ量程输出测试端电压被钳制在0.8若长时间开路,切换量程时显示无法显示UUUUU,出现数字乱跳现象。由于电线较难整理,容易缠绕在一起,使得下次使用时花费时间整理电线影响了工作效率。
方案:测量笔放置架,上设置一个,使驱动端和正负检测端通过微电阻相连,同时也避免电线缠绕在一起。
、数据
对同一电极箔进行多次测量 实验编号 变量 数据 1 电压检测端在舌面左侧,距离舌面1mm与S-测量点在横向保持平齐。 2 电压检测端在舌面左侧,距离舌面1mm横向上高于S-点 0.367mΩ 3 电压检测端在舌面左侧,距离舌面1mm横向上于S-点 0.375mΩ 4 电压检测端在舌面左侧,距离舌面2mm与S-测量点在横向保持平齐。 5 电压检测端在舌面左侧,距离舌面2mm横向上高于S-点 0.506mΩ 6 电压检测端在舌面左侧,距离舌面2mm横向上于S-点 0.511mΩ 7 电压检测端在舌面左侧,距离舌面3mm与S-测量点在横向保持平齐。 8 电压检测端在舌面左侧,距离舌面3mm横向上高于S-点 0.701mΩ 9 电压检测端在舌面左侧,距离舌面3mm横向上于S-点 0.697mΩ 10 电压检测端在舌面右侧,距离舌面1mm与S-测量点在横向保持平齐。 11 电压检测端在舌面右侧,距离舌面1mm横向上高于S-点 0.371mΩ 12 电压检测端在舌面右侧,距离舌面1mm横向上于S-点 0.375mΩ 采用高耐压电容 22μF、400V、8*12)正极箔(规格590B0006)。
实验编号
电压检测端在舌面左侧,距离舌面1mm与S-测量点在横向保持平齐。
实验编号
电压检测端在舌面左侧,距离舌面1mm横向上高于S-点
实验编号
电压检测端在舌面左侧,距离舌面1mm横向上于S-点
0实验编号4:
电压检测端在舌面左侧,距离舌面2mm与S-测量点在横向保持平齐。
电压检测端在舌面左侧,距离舌面2mm横向上高于S-点
实验编号6:
电压检测端在舌面左侧,距离舌面2mm横向上于S-点
实验编号7:
电压检测端在舌面左侧,距离舌面3mm与S-测量点在横向保持平齐。
8:
电压检测端在舌面左侧,距离舌面3mm横向上高于S-点
实验编号9:
电压检测端在舌面左侧,距离舌面3mm横向上于S-点
实验编号10:
电压检测端在舌面右侧,距离舌面1mm与S-测量点在横向保持平齐。
11:
电压检测端在舌面右侧,距离舌面1mm横向上高于S-点
实验编号12:
电压
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