无损检测最终概念.ppt

无损检测实验 超声波探伤实验 超声波探伤是产品质量检验的一项重要技术。它具有如下优点：灵敏度高，设备轻巧、操作方便、探测速度快、成本低、对人体无害等。故被广泛应用。 本次探伤试验中采用压电法来产生超声波，压电法是利用压电晶体来产生超声波的。 另外本次试验采用“单收发”模式，即探伤时是使用一个探头，这个探头同时起接收和发射超声波作用。 仪器简介 实验仪器及用具 ① CTS—22A型超深波探伤仪； ② CSK—IA 、CSK—IIA型标准试块； ③ 直探头2.5Z20N、斜探头2.5Z10×10 A60标准回波探头BH—50； ④ 耦合剂； ⑤ 游标卡尺。 仪器的调节与使用 CTS—22A型超声探伤仪系携带式A型脉冲反射式超声探伤仪器，可用交流或电池供电工作。 本仪器采用高性能器件和高亮度内刻度示波管，具有工作频率范围宽，探伤灵敏度高，稳定性好，显示波形清晰和小型、省电、方便等特点。 仪器可用于金属和部分非金属材料的超声无损检测，尤其适用于流动性大的野外或高架空探伤作业。 仪器面板图及旋钮说明如图3-1 CTS—22A 面板图 影响探伤波形的因素及缺陷大小、位置、性质的判断 一、耦合剂的影响 耦合剂的作用是将超声波导入工件，一般采用液体。它的声阻应与工件的声阻相同或接近，以获得最大的入射能量。 二、工件的影响 工件表面光洁度的影响 工件表面光洁度愈高，探头与工件接触愈好，声波导入工件的能量多。因此高的表面光洁度对声波耦合有利。 工件内部组织及化学成分的影响，不同工件组织对超声的能量衰减是不同的。（在钢中与铸铁中的区别） 工件形状的影响，图2-18与2-19。 缺陷存在情况的影响 缺陷的位置，同一缺陷，由于离探测面的距离不同，缺陷波高度与缺陷大小的关系变化如图2-22 缺陷大小，在相同的埋藏深度，不同的缺陷大小时, 缺陷波的高度变化也有所差异。 缺陷形状的影响 缺陷性质的影响 缺陷与声束的相对方向 缺陷表面的粗糙程度 缺陷的指向性 实验内容 一、试件尺寸测量试件1(CSK-ⅡA)宽与高的测量 对比于游标卡尺的测量结果，进行误差分析 二、测量试件1上缺陷的位置 三、试件2(CSK-ⅠA)上两个圆弧半径的测量 在试件2上，利用斜探头，通过仪表上波 程结果的记录，直接读出半径大小。 四、薄件衰减系数的测定（试件2）了解 试件宽高的测量 利用直探头 耦合剂 始波 底波 距离a（宽、高） 厚度测量波程图 试件缺陷的位置的确定 确定缺陷位置必须解决缺陷在探测面上的投影位置(即X、Y方向的数值)以及缺陷存在的深度(即Z方向上的数值)，如图所示。 探测表面 Y X 缺陷 Z 缺陷的位置，大小和性质的确定 直探头 斜探头 h=s L h=S*cosr 入射角r S S S 缺陷位置测量波程图（直探头） 试件2上半径的确定 确定参数r与