第8章-粉体制备和表征学案.ppt

表面化学成分分析 (1) X射线光电子能谱仪(X-ray photoemission spectroscopy)(XPS) (2) 俄歇电子能谱谱(Auger electron spectroscopy)(AES) (3) 二次离子质谱(secondary-ion mass spectrometry )(SIMS) (4) 扫描俄歇电子显微镜(scanning Auger microscopy)(SAM) 表面分析要求电子束或离子束在样品内的传统深度小于200nm。 粉体晶态分析 X射线衍射法：是利用X射线在晶体中的衍射现象来测试分析晶态的方法。 布拉格公式：nλ=2d sinθ 电子衍射法，原理一样，用聚焦电子束取代X射线。 粉体形貌结构分析 透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope,TEM） 扫描电子显微镜（ Scanning Electron Microscope,SEM） 扫描隧道显微镜（ Scanning Tunnel Microscope,SEM） * * * * * * * * * * * * * * * 第8章 粉体的制备及其表征 颗粒微细化过程 粉体(Powder)，就是大量固体粒子的集合体，它表示物质的一种存在状态，既不同于气体、液体，也不完全同于固体。 微粉或超细粉一般是粒径在100n