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AD转换实验详解
A/D转换实验
1. 实验任务
(1)4个A/D输入通道:INO与电位器VR1连接用于测量电位器的输出电压。
(2)IN1,IN2和IN3可测量通过J13输入的外接电压(=5V)。
(3)D/A输出:将INO的A/D转换值送D/A输出,DL10随D/A输出值的大小改变亮度。
(4)LCD1602同时显示四通道A/D转换值,并将INO通道的A/D转换值送D/A输出。
2. 实验环境
Keil uVision3, ME850单片机开发仪
3. 实验原理
(1) 计数型A/D转换器
计数器开始计数,计数值通过D/A进行转换,将转换后的数据与输入的模拟信号比较,小于继续加1,当值相同时停止计数,计数器当前值为输入模拟量。
(2) 逐次逼近型A/D装换器
与计数型基本相同,逐次逼进型是从高位向地位依次开始比较的。
(3) 双重积分型A/D转换器
将输入电压转换成与其平均值正比的时间间隔。然后将此时间间隔转换成数字量。
4. 流程图
5. 源代码
#include reg52.h
#include intrins.h
#define PCF8591_WRITE 0x90
#define PCF8591_READ 0x91
sbit SDA = P1 ^ 1; // P1.1口模拟数据口
sbit SCL = P1 ^ 0; // P1.0口模拟时钟口
#define disdata P0 //显示数据码输出口
sbit LCD_RS = P2 ^ 0;
sbit LCD_RW = P2 ^ 1;
sbit LCD_EN = P2 ^ 2;
unsigned char code dis1[] = 0- . V 1- . V;
unsigned char code dis2[] = 2- . V 3- . V;
unsigned int data dis[4];
unsigned char data receivebuf[4]; //数据接收缓冲区
char code reserve[3]_at_ 0x3b; //保留0x3b开始的3个字节
/**********************************************************
us延时函数 (4.34us)
**********************************************************/
void delayNOP()
{
_nop_();
_nop_();
_nop_();
_nop_();
}
/**********************************************************
ms延时函数
**********************************************************/
void delayms(unsigned int ms)
{
unsigned char i;
while (ms--)
{
for (i = 0; i 114; i++)
;
}
}
/**********************************************************
检查LCD忙状态
lcd_busy为1时,忙,等待。
lcd-busy为0时, 闲,可写指令与数据。
**********************************************************/
bit lcd_busy()
{
bit result;
LCD_RS = 0;
LCD_RW = 1;
LCD_EN = 1;
delayNOP();
result = (bit)(P0 0x80);
LCD_EN = 0;
return (result);
}
/**********************************************************
写指令数据到LCD
RS=L,RW=L,E=高脉冲,D0-D7=指令码。
**********************************************************/
void lcd_wcmd(unsigned char cmd)
{
while (lcd_busy())
;
LCD_RS = 0;
LCD_RW = 0;
LCD_EN = 1;
P0 = cmd;
delayNOP();
LCD_EN = 0;
}
/****************************
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