12点阵常数的精确测定及第一篇总结精要.pptxVIP

上一讲主要内容回顾 1、 物相定量分析的基本原理 2、 定量分析的基本方法 （重点：参比强度法基本内容、案例）　　　　 问题 1、X射线衍射分析在材料研究中的主要功能是什么？ 2、如果有一个待测样品，现需要知道它的物相组成及各自的质量分数，请问该如何进行分析表征？ 　　　 5-3点阵常数的精确测定 任何一种晶体材料的点阵常数都与它所处的状态有关。 当外界条件（如温度、压力）以及化学成分、内应力等发生变化，点阵常数都会随之改变。 这种点阵常数变化是很小的，通常在10-5nm量级。 精确测定这些变化对研究材料的相变、固溶体含量及分解、晶体热膨胀系数、内应力、晶体缺陷等诸多问题非常有作用。所以精确测定点阵常数的工作有时是十分必要的。 （一）点阵常数的测定 X射线测定点阵常数是一种间接方法，它直接测量的是某一衍射线条对应的θ角，然后通过晶面间距公式、布拉格公式计算出点阵常数。以立方晶体为例，其晶面间距公式为： 根据布拉格方程2dsinθ=λ，则有： 在式中，λ是入射特征X射线的波长，是经过精确测定的，有效数字可达7位数，对于一般分析测定工作精度已经足够了。干涉指数是整数无所谓误差。所以影响点阵常数精度的关键因素是sinθ。 影响点阵常数精度的关键因素是sinθ 由图可见，当θ角位于低角度时，若存在一△θ的测量误差，对应的△sinθ的误差范围很大；当θ角位于高角度时，若存在同样△θ的测量误差，对应的△sinθ的误差范围变小；当θ角趋近于90°时，尽管存在同样大小的△θ的测量误差，对应的△sinθ的误差却趋近于零。 直线外推法 如果所测得的衍射线条θ角趋近90°，那么误差（△a/a）趋近于0。 但是，要获得θ=90°的衍射线条是不可能的。于是人们考虑采用“外推法”来解决问题。 所谓“外推法”是以θ角为横坐标，以点阵常数a为纵坐标；求出一系列衍射线条的θ角及其所对应的点阵常数a；在所有点阵常数a坐标点之间作一条直线交于θ=90°处的纵坐标轴上，从而获得θ=90°时的点阵常数，这就是精确的点阵常数。 柯亨法 直线图解外推法仍存在一些问题。首先在各个坐标点之间划一条最合理的直线同样存在主观因素；其次坐标纸的刻度不可能很精确。 为避免这些问题，另一种方法是采用最小二乘法。这种实验数据处理的数学方法是由柯亨(M.U.Cohen)最先引入到点阵常数精确测定中的，所以也常常称之柯亨法。 （二）误差来源与消除 上述方法只是点阵常数精确测定中的数据处理方法，若要获得精确的点阵常数，首先是获得精确的X射线衍射线条的θ角。不同的衍射方法，θ角的误差来源不同，消除误差的方法也不同。 德拜照相法的系统误差来源主要有：相机半径误差，底片伸缩误差，试样偏心误差，试样吸收误差等 解决上述问题的方法常常采用精密实验来最大限度地消除误差。为了消除试样吸收的影响，粉末试样的直径做成φ0.2mm；为了消除试样偏心的误差，采用精密加工的相机，并在低倍显微镜下精确调整位置；为了使衍射线条更加峰锐，精确控制试样粉末的粒度和处于无应力状态；为了消除相机半径不准和底片伸缩，采用偏装法安装底片；为了消除温度的影响，将试样温度控制在±0.1℃。 （二）误差来源与消除 用衍射仪法精确测定点阵常数，衍射线的θ角系统误差来源有：未能精确调整仪器；计数器转动与试样转动比（2：1）驱动失调；θ角0°位置误差；试样放置误差，试样表面与衍射仪轴不重合；平板试样误差，因为平面不能替代聚焦圆曲面；透射误差；入射X射线轴向发散度误差；仪器刻度误差等。 试样制备中晶粒大小、应力状态、样品厚度、表面形状等必须满足要求。 直线外推法，柯亨法等数据处理方法也用来消除上述二种方法的误差。 总结 X射线衍射在材料科学中的应用很广范，除了本章介绍的精确测量晶体的点阵常数、物相分析和应力测定外，X射线衍射还可以测定单晶体位向、测定多晶体的织构问题。但是，最为普遍的应用是X射线物相定性分析。在应用X射线进行上述工作首先是根据要求准备好规范的试样，其次是选择辐射条件。另外每一项工作都存在一些主要影响因素，都有一些适合X射线衍射分析的条件，这些因素的恰当考虑与控制才能获得满意的结果。 谢谢共赏本讲雅俗内容！ 作业：P70：4，6 总结：总结第一篇的主要内容 材料X射线衍射分析总结 必知内容提要： X射线的性质、产生及谱线种类及机理 X射线与物质的相互作用：几种现象及机理 X射线衍射方向：布拉格方程及推导，X射线衍射方法 X射线衍射强度：多晶体衍射图相的形成过程，衍射强度影响因数及积分强度公式 多晶体分析方法：X射线衍射仪的构造及各部件的作用，实验参