第七章X射线衍射分析的应用.ppt

如：由锐钛矿（A-TiO2）和金红石（R-TiO2）两相组成的样品，要测定其中金红石的含量。 1、通过实验获得待测样衍射曲线，测量衍射强度比 IA/IR ； 2、查PDF卡片参比强度（RIR）数据，其中 3、利用下式直接计算出金红石的含量： 金红石（R-TiO2）： 锐钛矿（A-TiO2）： 由PDF卡片查参比强度（RIR） 金红石（R-TiO2） RIR=3.4 锐钛矿（A-TiO2） RIR=3.3 直接对比法 直接对比法: 上述方法：都是将待测相纯物质与标准物质比较，以获得K值。但有时获得纯物质较困难，如金属材料，为此可用直接比较法。 直接对比法： 通过将待测相与试样中另一相的衍射峰对比，求其含量。 最适于：化学成分相近的两相混合物的分析。 如：两相黄铜中相含量测定； 淬火钢中残余奥氏体（γ）含量的测定等 是直接对比法成功的典型用例。 淬火钢中残余奥氏体（γ）含量的测定 设淬火钢中含奥氏体和马氏体两相，体积含量：fγ 和 fα。若二者某衍射峰强度： Iγ和 Iα： 由定量基本公式： 其中：由强度公式得 K 值，因前二项是常数，相除可约得R， 因为试样中只有两相，fγ+fα=1、 fα=1－fγ ，则 式中 Iα/ Iγ通过实验测得，R 可由公式计算得到。 直接对比法好处：不要纯物质作定标曲线，也不要标准物质。适合于金属样品，因其结构简单，可计算出 R 值。 非金属材料：因物相结构较复杂，R 值计算十分复杂，应用有一定困难。 第三节 点阵参数的精确测定 点阵参数的精确测定： 在冶金、材料、化工等许多研究领域，牵涉点阵参数测定。 如：固溶体类型的确定； 固溶体中溶质的固溶度（含量）； 测定点阵参数随温度变化，可计算晶体的热膨胀系数。 过饱和固溶体分解过程研究等； 因点阵参数变化很小（约10-5nm数量级），因而有必要对点阵参数进行精确测定。 多晶体点阵参数的测定：有德拜照相法和衍射仪法。 一、测定误差来源 点阵参数测定：用 X射线衍射法，由测定某衍射晶面的掠射角θ计算而得。 立方系晶体：由布拉格方程和晶面间距公式可得： 测定精度：取决于sinθ的精度，而θ 角测定精度与使用的仪器和测定方法（衍射仪、照相法）有关。 原则上，用衍射图上每条衍射线均可计算点阵参数，但用哪一条衍射线来计算最接近真实值呢？ θ-Δθ关系曲线： 当Δθ一定时，sinθ变化与θ所在的范围有很大关系。 当θ接近900时， sinθ变化最缓慢；说明：高θ角时sinθ值比低θ角时更精确。 sinθ随θ的变化关系 当Δθ一定时，用高θ角衍射线测量，面间距误差Δd/d（即Δa/a）减少； 当θ趋近于900时，误差趋近于0。 因此，点阵参数精确测定：应尽可能用高θ角线条测量，并使衍射晶面与X射线波长有很好的配合。 对布拉格公式微分，可得： 二、图解外推法 点阵参数精确测定：应尽可能用高θ角线条测量，但实际测量的高角衍射线的θ角与900总有距离，可用外推法接近理想状态（θ＝900 ）。 常用的外推法： ① a-θ曲线外推法； ② a-cos2θ直线外推法； ③ 直线外推法； ④ 最小二乘方法。 1） a-θ曲线外推法： ① 先测出同一物质多根衍射线θ角值，并算出相应 a值。 ② 以θ角为横坐标，a值为纵坐标，将各点连成一光滑曲线； ③ 延伸曲线，使之与θ=900处纵坐标相截，截点对应 a 值即为精确点阵参数。 曲线外延有带主观因素，故最好寻求另一量（ θ的函数）作为横坐标，使得各点以直线相连接。 2） a-cos2θ直线外推法： 误差分析表明：以cos2θ为外推函数作横坐标，a值作纵坐标，连接各点符合直线关系。 对立方晶系： K—常数 表明：当cos2θ减少时，Δa/a值也随之减少；当cos2θ→ 0（θ→900）时，Δa/a趋于0，即 a 趋近于真值 a0 。 a-cos2θ直线外推处理方法： ① 先测出若干高θ角衍射线，并求出相应 a值。 ② 以cos2θ为横坐标，a值为纵坐标，连接各点应为一直线； ③ 按各点趋势，定出一条平均直线，其延线与纵坐标交点即为精确的点阵参数。 采用了近似处理。是以背散射线条（高θ角）为前提的。 对立方晶系a-cos2θ直线外推： cos2θ外推法： 要求全部衍射线θ 600，且至少有一根θ 800以上。在很多场合下，此条件难以满足。 须寻求一种适合包含低角衍射线的直线外推函数。 尼尔逊（Nelson.J.B）等用尝试法找到了此外推函数，它是一种包含低角衍射线的直线外