1.1导电类型的测试.pptxVIP

硅材料检测技术 主讲人：刘建波 材料工程系 项目一 硅单晶常规电学参数的物理测试 1、1半导体单晶硅导电类型的测试 1、2半导体硅单晶电阻率的测定 1、3 非平衡少数载流子寿命的测量 一、材料按导电类型分类 导体：导体（conductor），是指电阻率很小且易于传导电流的物质。 半导体（ semiconductor），指常温下导电性能介于导体（conductor）与绝缘体（insulator）之间的材料。 绝缘体：不善于传导电流的物质称为绝缘体（Insulator），绝缘体又称为电介质引。它们的电阻率极高。 本征半导体：不含杂质且无晶格缺陷的半导体称为本征半导体。在极低温度下，半导体的价带是满带（见能带理论），受到热激发后，价带中的部分电子会越过禁带进入能量较高的空带，空带中存在电子后成为导带，价带中缺少一个电子后形成一个带正电的空位，称为空穴。空穴导电并不是实际运动，而是一种等效。电子导电时等电量的空穴会沿其反方向运动。 半导体的类型 杂质半导体：通过扩散工艺，在本征半导体中掺入少量合适的杂质元素，可得到杂质半导体。 P型半导体：在纯净的硅晶体中掺入三价元素（如硼），使之取代晶格中硅原子的位置，就形成了P型半导体。 多数载流子：P型半导体中，空穴的浓度大于自由电子的浓度，称为多数载流子，简称多子。 少数载流子：P型半导体中，自由电子为少数载流子，简称少子。 受主原子：杂质原