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- 2016-08-21 发布于天津
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第六章粉体学基础(micromeritics)
第六章 粉体学基础 (micromeritics)
第一节 概述
粉体是无数个固体粒子的集合体。属于固体分散在空气中形成的粗分散体系。
粉体学是研究粉体基本性质及其应用的科学。
一级粒子:单个粒子
二级粒子:多个粒子聚结体
100μm 称“粉” 100μm 称“粒”
表6-1 粉体中颗粒的分类 (3mm~1nm)
固体制剂粒度范围:几μm ~ 十几mm
第六章 粉体学(micromeritics)基础
第二节 粉体的基本性质
一、粒子径与粒度分布
粒子大小常用粒子径来表示。粒子的大小也称粒度,含有粒子大小及分布双重含义。 (一)粒子径
1. 几何学粒子径:(1)三轴径:长、短、高
(2) 定向径:粒子在投影面上某定向直线长度。定方向接线径(Feret或Green径)
定方向等分径( Martin径)
定方向最大径(Krummbein径)
(3)圆相当径(Heywood径)
第二节 粉体的基本性质
一、粒子径及粒度分布(一)粒子径
⑷球相当径:用球体粒径表示不规则粒子的大小。
体积(球)相当径,表面积(球)相当径,比表面积(球)相当径,
2.沉降速度相当径
3.筛分径 算术平均径:DA=a+b/2
几何平均径:DA=ab1/2
a: 粒子通过粗筛网直径
b:粒子被截留于细筛网直径
粒径表示方式:(-a +b)即粒径 a, b
如(-1000+900)μm 1000μm 900μm平均950μm
粒径表示法
第二节 粉体的基本性质
一、粒子径及粒度分布
(二)粒度分布
粒子分布是指不同粒径的粒子群在粉体中所占
的百分率。反映粒子的均匀程度。
频率分布与累积分布(直方图或曲线)
(三)平均粒子径
P87 表6-3 各种平均粒径与计算公式。
粒度分布
第二节 粉体的基本性质
一、粒子径及粒度分布
(四)粒径的测定方法
显微镜法:根据投影像测得,主要测几何学径。
光镜:μm级,电镜:nm级
视野中应选300~600个粒子
电子显微镜:扫描~观察表面形态图像富立体感
放大至几十万倍;
透射~观察超微结构分辨能力0.1 ~ 0.2nm
Zetasizer nano ZS90 Malvern英国马尔文公司
粒径范围: 1nm~3 μm
测量角度: 90°
最小样品量:12 μl
Zeta电位
人民币32万元
Sirion200扫描电子显微镜(荷兰菲利普公司)
第二节 粉体的基本性质
一、粒子径及粒度分布
(四)粒径的测定方法
2. 库尔特计数法(电感应法):测定范围1~600μm
将粒子混悬于电解质溶液中,细孔两侧各有电
极,粒子通过细孔,电阻发生变化,电阻与粒子体
积成正比,电信号换算成粒径。
本法测得粒径为等体积球相当径。
粒径的测定方法
第二节 粉体的基本性质
一、粒子径及粒度分布(四)粒径的测定方法
3.沉降法:
根据stokes定律:测定范围:0.5~200μm
V= 2r2(ρ1-ρ2)g/9η
t = h/v = 9η·h/2r2(ρ1-ρ2)g
测定时只需测定t时间的粒子沉降的高度h代入公式,即可求出粒径r。
形态不规则的粒子用本法测定的粒径不是其真实粒径,称为有效径(stokes径)。
4.比表面积法:粒径减少比表面积增加。
第二节 粉体的基本性质
一、粒子径及粒度分布(四)粒径的测定方法
5.筛分法:应用最早、最广、简便。
测定范围:45μm以上,微孔筛可筛分10μm以下
用筛孔孔径表示粒子径。
操作方法:将筛子从上到下,从粗到细排列,粉粒置最上层,振摇一定时间后,称量留在每个筛子上的粉粒重量,求得各粒径范围内粒子重量百分比,求得以重量为基准的筛分粒径分布及平均粒径
筛号与筛孔尺寸:
“目”:2.54cm上筛孔的数目。除
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