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磷矿石Ⅹ射线荧光光谱分析 　　摘要：选择基本参数法和粉末直接压片改正基体效应的手段，采用APL ADVANT XP型X射线荧光光谱仪（Thermos Fisher公司）实现了浮选磷矿中制样主要指标P2O5、F、SiO2、Al2O3、Fe2O3、MgO、CaO的快速分析，各组分的精密度（N=7）RSD1.0%。监控样的分析结果与化学法或熔融-XP}F法的结果基本吻合。 　　关键词：磷矿石；Ⅹ射线；荧光光谱分析 　　1、绪论 　　定量和定性分析元素的仪器为X射线荧光光谱（XRF），样品的照射是由X射线管进行，从而出现拥有所含有元素各自固有的荧光X射线波长。样品中不同的元素有不同的特定荧光X射线波长，依据特定波长（或测角仪分光晶体的角度）的不同即可定性分析是什么元素。对选定的波长（或测角仪分光晶体的角度）记录其荧光X射线的强度，通过校准曲线换算，即可得到该种元素的定量分析结果。 　　这个方法是根据含量范围分布、矿物组成、磷矿矿石类型等特点，改正基体效应的手段选择基本参数法和粉末直接压片的方法，拟定了P2O5、F、SiO2、Al2O3、Fe2O3、MgO、CaO主要指标的现场快速分析方法。用XRF光谱法测定选厂的原矿及正浮选尾、精矿中的上述多种组分，制样时间只需2min测量时间为1min，达到了快速分析的要求，数据准确、重复性好，能满足生产要求。 　　2、实验 　　2