《电子技术实验2》指导书资料.docVIP

《电 子 技 术》 实验2 福建工程学院电子信息与电气工程系 电子技术教研室 2007年3月 目 录 实验一 TTL逻辑门主要参数测试 1 实验二 三人无弃权表决电路设计 8 实验三 数码管字符显示电路设计 12 实验四 逻辑函数发生器设计 13 实验五 译码显示电路设计 15 实验六 集成触发器功能测试 16 实验七 异步计数器设计 17 实验八 序列脉冲检测器设计 18 实验九 八进制计数器设计 19 实验十 集成计数器应用 20 实验十一 移位彩灯电路设计 21 实验十二 脉冲波形发生与整形电路设计 22 实验十三 数字计时与报警电路设计 23 实验十四 交通灯电路设计 25 实验十五 竞赛抢答器设计 26 附录一 数字电子技术实验箱使用说明 27 附录二 DM74LS00主要参数 29 附录三 实验报告格式 30 附录四 数字电子技术实验注意事项 31 实验一 TTL逻辑门主要参数测试 一、实验目的 1、掌握TTL逻辑门主要参数和特性的含义。 2、掌握TTL逻辑门主要参数和特性的测试方法。 3、熟悉数字电子技术实验箱的使用方法。 二、实验内容 1、验证与非门的逻辑功能，用真值表记录实验结果，输入信号由电平开关提供，输出用发光二极管作为指示灯，灯亮为高电平“1”状态，灯灭为低电平“0”状态。 2、主要参数测试 （1）空载导通电流ICCL，测试电路图如图1-1所示。 （2）低电平输入电流IIL，测试电路图如图1-2所示。 （3）高电平输入电流IIH，测试电路图如图1-3所示。 （4）扇出系数NO R1：100Ω，R2：22KΩ电位器。通过调节R2电位器可以改变灌入输出端的电流。随着该电流的增加，输出端的电压上升，到达低电平VOL时对应的值为IOL。扇出系统可以根据式1-1计算。测试电路图如图1-4所示。 3、电压传输特性 按图1-5连接电路，其中RW为22KΩ的电位器。调节Rw，使得Vi从“0”伏至“2.4”伏变化，逐点测出Vi和Vo，并记录在表1-1中，在坐标纸上作出电压传输特性曲线。并求出VOH，VOL，VT，VON，VOFF，以及低电平噪声容限VNL VOFF-VOL和高电平噪声容限VNH VOH-VON。 表1-1 电压传输特性的输入电压与输出电压对应表 Vi V 0 2.4 Vo V 三、实验仪器 1、数字电子技术实验箱 一台 2、双踪示波器 一台 3、万用表 一台 4、74LS00 一片 四、预习要求 1、熟悉数字电子技术实验箱的结构，功能，及使用方法（附录1）。 2、复习TTL逻辑门的主要参数和特性的意义。 3、熟悉TTL逻辑门主要参数和特性的测试电路。 4、了解74LS00芯片的引脚分配和封装外形，查阅74LS00的主要参数指标。 五、报告要求 1、简述所测试参数的意义，记录所测参数74LS00数据手册中数值。 2、画出测试电路，记录测试结果，并在坐标纸上画出电压传输特性曲线，计算出相关的参数值。 3、将所测的主要参数及计算值列表，并与手册标准值比较，分析所测芯片的性能。 六、实验注意事项 1、将待测的与非门74LS00插在面包板上，按照测试电路图接线，检查无误后再接通电源，然后进行实验。对于初学者来讲，容易认错集成块的引脚，因此必须认真检查，如果发现集成块发热，应立即关断电源，发热的原因一般是接反了电源，或者输出端对地短接。 2、每个74LS00芯片包含4个独立的两输入与非门（电源部分共用），可以任意选择一个与非门进行测试。 3、TTL与非门的输入端悬空相当于逻辑“1”电平。 七、实验原理 在双极型集成逻辑门电路中应用最广泛的是TTL电路。要选择和使用集成芯片，必须了解它的主要参数和特性。TTL集成与非门是数字电路中广泛使用的一种基本逻辑门。本次实验采用TTL集成二输入四与非门74LS00作为测试芯片，以掌握TTL逻辑门主要参数和特性的含义及其测试方法。 本课程采用的芯片封装形式均为双列直插，以方便实验的进行。74LS00的封装外形如图1-6（a）所示，引脚图如图1-6（b）所示。TTL集成芯片以左边的缺口为标示，缺口左边为第1引脚，引脚号按逆时针方向递增。 与非门的主要参数 （1）空载导通电流ICCL和空载截止电流ICCH ICCL是指输入端全部悬空，输出端空载，与非门处于导通状态时，电源供给的电流。ICCH是指输入端接低电平，输出端空载，与非门处于截止状态时，电源供给的电流。ICCL和ICCH的大小标志着与非门电路在静态情况下功耗的大小，空载导通功耗PON ICCL*VCC和空载截止功耗POFF ICCH*VCC。PON和POFF二者越小越好。集成芯片数据手册给出的功耗通常是指PON，因为门电路在导通状态时ICCL较大。 （2）低电平输入电流IIL IIL是指当一个输入端接地，而其