第八章 集成电路的测试与可测性设计.pptVIP

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  • 2016-08-31 发布于河南
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第八章 集成电路的测试与可测性设计.ppt

第八章 集成电路的测试与可测性设计

集成电路设计导论 第一部分 理论课 第一章 绪言 1.1 集成电路的发展 1.2 集成电路分类 1.3 集成电路设计 第二章 MOS晶体管 2.1 MOS晶体管结构 2.2 MOS晶体管工作原理 2.3 MOS晶体管的电流电压关系 2.4 MOS晶体管主要特性参数 2.5 MOS晶体管的SPICE模型 第三章 MOS管反相器 3.1 引言 3.2 NMOS管反相器 3.3 CMOS反相器 3.4 动态反相器 3.5 延迟 3.6 功耗 第四章 半导体集成电路基本加工工艺与设计规则 4.1 引言 4.2 集成电路基本加工工艺 4.3 CMOS工艺流程 4.4 设计规则 4.5 CMOS反相器的闩锁效应 4.6 版图设计 第五章 MOS管数字集成电路基本逻辑单元设计 5.1 NMOS管逻辑电路 5.2 静态CMOS逻辑电路 5.3 MOS管改进型逻辑电路 5.4 MOS管传输逻辑电路 5.5 触发器 5.6 移位寄存器 5.7 输入输出(I/O)单元 第六章 MOS管数字集成电路子系统设计 6.1 引言 6.2 加法器 6.3 乘法器 6.4

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