第二章X射线衍射刘昭第概述.ppt

1、衍射分析技术的发展 与X射线及晶体衍射有关的部分诺贝尔奖获得者名单 2.1.5 X射线与晶体结构：光的散射和衍射 1. 光的散射：相干散射、非相干散射 2. 光的衍射：波的干涉、衍射 3.晶体结构基础 晶体：有规律的周期性重复排列，固定的熔点和各向异性 多晶体的人为各向异性 2.2 晶体空间点阵 点阵、阵点(结点)、晶格、晶胞、点阵常数（晶格常数）、晶胞参数、晶系、布拉维格子、晶面指数 2.3 X射线分析法原理 2.3.1 X射线在晶体中的衍射 1. X射线衍射现象 布拉格定律 衍射的必要条件：a. X射线 b.周期性排列的散射中心 2. 布拉格方程 斜方（正交）晶系衍射方向 3. 晶体衍射图形 单晶：规律排列的衍射斑点 多晶：同心衍射环 2.3.1 X射线衍射的实验方法简介 1. 实验方法 针孔法：透射法、反射法-多晶体 德拜-谢乐法：多晶体 周转晶体法：单晶体、 多晶衍射仪法：反射法 2. 多晶X射线衍射仪组成 高压发生器、测角仪、外围设备（记录仪、仪器处理系统、测角仪控制系统等） 3. 多晶衍射仪实验的影响因素 表观（尺寸，平整性）和样品内部（取向，晶粒大小等） 实验参数：狭缝大小、信号处理系统各参数、入射线波长及其单色性、 空气散射因素 环境：电源稳定性 2.3.3 小角X射线散射法（SAXS) 1.小角X射线散射法基本原理 测量范围为几～几十纳米的长周期，要将角度缩小到小角（1o～2o） 要求：准直系统要长，光栅或狭缝要小，X射线源要强 2. X射线小角散射法在高聚物中的研究应用 主要为高分子材料结构参数的研究，如高分子结构、介孔结构分析、薄膜厚度、界面结构、多层膜结构 2.3.4 样品的制备方法简介 1. 样品的面积、厚度要求 2. 晶粒要在空间随机取向（多晶） 3.表面粗糙度要较低（薄膜） 4. 具体样品的要求 粉状样品：颗粒度0.1-10nm，参比物要结晶完好，小于5μm，吸收系数小，样品制备均匀 薄膜样品：厚度、平整、粗糙度要小、面积大 特殊样品（量少的粉体样品）：样品要分散均匀，每次分析中样品的分散量尽可能相同 2.4 多晶体物相分析 2.4.1 X射线衍射物相分析的基本原理 2.4.2 物相分析的定性分析 利用 与PDF卡或数据库鉴定各样的相 PDF卡片索引 1. 数字索引：di 由大到小的顺序 2. 字母索引：化学式或物质名称的英文字母顺序 2.4.3 物相的定量分析 各特征衍射线的强度与样品中相应物相参与衍射的晶胞数目成正比 1.外标法（单线条法） 已知各相的质量吸收系数（μα、μβ） 不知道各相的质量吸收系数 先测不同α相含量的Iα标准曲线，再将测得的待测样的Iα查曲线即可 2. 内标法（粉末） 作定标曲线，测已知不同A相浓度和恒定浓度的标准物质的I 值，作IA / IS - wA曲线，由待测物的IA/IS可知wA。 2.4.4 物质状态的鉴定 结晶度：物质或材料中晶态部分占总体的质量分数或体积分数 对于高聚物 2.4.5单晶和多晶取向测定 1.单晶定向、微晶取向 2.在高聚物晶区上的应用：表明晶区分子链取向 3. X射线衍射法测得微晶取向方法 极图法 Hermans因子f 轴取向指数R 2.4.6 晶粒度的测定 2.4.7介孔结构的测定 小角度X射线衍射峰 2.4.8 宏观应力的测定 2.4.9 薄膜厚度和界面结构测定 2.4.10 多层膜结构测定 用小角度XRD方法测定调制周期 2.5 X射线法最新进展及应用 2.5.1 同步辐射X射线吸收精细结构方法 2.5.2 Rietveld方法 2.5.3 X射线衍射法其他应用 ②非相干散射 （incoherent scattering 量子散射） X射线光子与束缚力不大的外层电子 或自由电子碰撞时电子获得一部分动能成为反冲电子，X射线光子离开原来方向，能量减小，波长增加的非相干散射波。 非相干散射是康普顿（A.H.Compton）和我国物理学家吴有训等人发现的，亦称康普顿-吴有训效应。 非相干散射突出地表现出X射线的微粒特性，只能用量子理论来描述，亦称量子散射。 它会增加连续背影，给衍射图象带来不利的影响，特别对轻元素。 X射线的散射 （2）X射线的吸收 物质对X射线的吸收：X射线能量在通过物质时转变为其它形式的能量，X射线发生了能量损耗。 主要表现在对物质原子中的内层电子的激发和随后产生的各种过程。 它主要包括光电效应（二次特征幅射）和俄歇效应等。 光电效应 俄歇效应