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材料近代分析方法 伊军英 章节内容 1. X射线的性质 2. X射线衍射方向 3. X射线衍射强度 4. 多晶体分析方法 5. X射线物相分析 2 转晶法 Rotation Method 3 粉晶法 Powder Method 几个概念 偏振/极化因子 原子散射因子 结构因子 第四章 多晶体分析方法 1. 粉末照相法——采用感光底片来检测 衍射线的方向和强度。 （1）德拜-谢乐法 （2）聚焦照相法 （3）针孔法 2.衍射仪法——采用探测器和测角仪来检测 衍射线的方向和强度。 二、实验方法 2. 底片的安装 按圆筒底片开口位置不同分三种方法 1）正装法 2）反装法 3）偏装法 底片安装方法示意图 入射角θ与弧对长度2L的关系式 德拜相衍射相对强度的度量 目测比较法——相对黑度分为最强、 强、 中、弱、 最弱五级 显微光度计法——光度曲线 一、X射线衍射仪的基本组成及原理 X射线发生器 测角仪 探测器 记录系统 测量电路 计算机系统 ① 试样台 ② X射线源 ③ 测角仪台 ④ 测角仪圆 ⑤ 测量动作 2）测角仪的衍射几何 ①满足条件 布拉格方程 衍射线聚焦 3）测角仪的光路布置 3. 探测器 计数管 正比计数器 盖革计数器 闪烁计数器 四. 吸收因子 圆柱试样的吸收因子 2.平板试样的吸收因子 圆柱试样和平板试样表现出不同的吸收效果 五. 温度因子 1. 原子的热振动 2. 热振动对衍射的影响 ①引起晶格膨胀，使衍射线位移。 ②使衍射强度下降。 ③引起热漫散射，增加衍射背底强度。 六. 多晶粉末试样的衍射积分强度 衍射线积分强度： 1、德拜-谢乐法的衍射线相对强度 与 同时忽略 吸收因子与温度因子对强度影响规律相反，粗略计算时将两项同时忽略 2、衍射仪法的衍射线相对强度 与 衍射角无关 §4-2 粉末照相法 §4-3 X射线衍射仪 §4-4 点阵常数的精确测定 Return 衍射圆锥的形成 入射X射线 hkl 干涉面 hkl 干涉面 一个晶面族的衍射共同构成一个以入射线为轴的同顶点圆锥 粉末照相法衍射图的形成 德拜相 圆弧对 德拜相机剖面示意图 圆筒机壳 试样架 光阑 承光管 ①样品要求： a. 细度10-3cm～10-5cm b. 细圆柱状粉末 ②实验数据的测定： 测定底片上衍射弧对的相对位置和相对 强度，计算θhkl和dhkl。 1. 试样制备 正装 反装 偏装 衍射圆弧对相对位置和相对强度 hkl 干涉面θ角度和晶面间距d 德拜相的测量 德拜法衍射几何 透射区，2θ 90o 背射区， 2θ 90o 如何标定每条衍射线的干涉面指数？ 同一测试条件—— 为常数 测角仪构造 测角仪的光学布置 短波限 * X射线在晶体结构中的相干散射 晶体———晶胞———原子———电子 原子排布 晶体结构 相干散射 晶胞参数 晶体几何学 2.5 X射线衍射方法 布拉格方程是衍射的必要条件，对于一定的晶体（d值一定），λ与θ有严格的依赖关系，或连续改变λ，或连续改变θ，可使布拉格方程得到满足。 有三种主要的衍射方法：劳埃法、周转晶体法、粉末法。 一、 劳埃法 实验条件： 连续X射线入射固定的单晶体，用垂直于入射线的平板底片记录衍射花样。 反射法 透射法 透射法 反射法 1 劳埃法 Laue Method 二、 周转晶体法 实验条件： 单色X射线入射绕某晶轴转动的单晶体，并用一张以旋转轴为轴的圆筒形底片来记录衍射花样。 实验原理 λ固定，θ连续改变，当θ与 某组晶面的d满足布拉格方程时， 产生衍射： 底片 入射 X射线 三、粉末法 实验条件： 单色X射线入射多晶样品（粉末，或者细晶粒的多晶块、板、薄膜、丝等） 原理 利用晶粒的取向不同来改变θ，以满足布拉格方程； hkl 晶面在空间取向任意分布，与入射线夹角为θ的 hkl 晶面均可产生衍射，形成衍射圆锥。  第三章 X射线衍射强度 3-2 结构因子 3-3 多晶体的衍射强度 3-4 积分强度计算举例 衍射强度 提供晶体中原子种类及其在晶胞中 位置等信息。 照 相 法——底片的黑度 衍射仪法——衍射峰的高低或积分强度 照 相 法——底片的黑度 单位弧长的衍射弧强度为 积分强度示意图 衍 射 仪 法 3-2 结构因子FHKL 一. 衍射条件 Bragg 方程——必要，但非充分 二. 系统消光 原子种类 及其在晶体中的位置 变化导致符合Bragg方程的某些方向的衍射线消失 的现象。 三. 结构因子FHKL 定量表征原子种类及位置对衍射强度 影响规律的参数——晶体结构对衍射 强度的影响因子。 讨 论 方 法 电子 原子 晶胞 单晶 粉末