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課程內容 SPC 的基本觀念 制程能力 CPK 分析 直方圖 管制圖及其叛讀 X—R，X—S，P，nP，C，U Minitab 繪制 CPK， X—R，X—S，P，nP，C，U 課程內容 SPC 的基本觀念 制程能力 CPk 分析 直方圖 管制圖及其叛讀 X—R，X—S，P，nP，C，U Minitab 繪制 CPk， X—R，X—S，P，nP，C，U 產品品質管理的六個基本觀念 沒有兩件事情是完全相像（即使雙胞胎兄弟） 產品或製程的變異是可以衡量 事情的改變是依據一定的模式 量測同類型的產品大多數的量測群會集中出現在中央附近 產品的製程，會決定其分配的曲線形狀 非機遇原因的變異會扭曲常態分配的傾向 統計品管發展 SQC 1939年,戴明 Edwards Deming 與休華特 Walter Shewhart 合著一本“由統計出發的品質管制” Statistic Method from the Viewpoint of Quality Control ,強調品質是製造出來的,而非檢驗出來的,主張將簡單而且單刀直入的統計方法運用在製程之中,才是預防品質滑落的最好方法,並能節省大量檢驗成本,達成品質的目標。 SPC（Statistic Process Control）的功用 經由上線前 off line 及製程中 on line 去蒐集資料，透過統計分析或管制圖，加以分析中發掘製程的異常，並經由問題分析，以找異常原因立即採取改善措施，使製程恢復正常。並透過製程能力解析與標準化，不斷提昇製程能力。 重要特徵： 常態曲線左右兩尾端和橫軸漸漸接近，但不會相交。 以u為中心成對稱分佈。 常態分配有兩個反曲點 Point of Inflection 分別在橫軸的一個標準偏差的位置。 由於其左右對稱，曲線與橫軸所圍的面積為1。 經驗法則：當分配形態接近為鐘型分配時 在正負一個標準差內約佔全部數值之68.26% 在正負二個標準差內約佔全部數值之95.45% 在正負三個標準差內約佔全部數值之99.73% 變異 為使變異的表示簡化，通常分成共同原因的變異（機遇性原因-Chance cause or system cause ），及特殊原因的變異（非機遇性原因-Assignable cause or special cause ）。 共同原因：製程中原因，其所造成的分配與時間的關係是穩定而可重複、可預測，如製程中之變異僅由一般原因所造成，則稱此製程是在統計的管制狀態中，因其產品之特性有固定的分配。 特殊原因：製程中不常發生但造成製程的變異，其所造成的分配與時間的關係不穩定且無法預期，故稱製程變異是不在統計的管制狀態下，因其產品之特性沒有固定的分配。 問題與對策 特殊原因的變異可由統計分析（管制圖）發現，這些變異的原因可由現場人員從4M＋1E直接改善，一般稱之為局部問題之對策，大約能夠解決15﹪製程之問題；共同原因的變異可由製程能力分析發現，但改善的工作則須由管理者及技術者共同來改善，一般稱之為系統改善，大約85 ﹪是屬於此類。 統計製程管制的目的：參數設計縮小共同變異，提昇Cpk；應用管制圖偵測特殊原因發生的現象，立即回饋現場進行改善。 建立統計製程管制的模式 1.確立製造流程-繪製流程圖、制定品質計劃（管理什麼-what；為何要管理-why） 2.決定管制項目-A、S項（QC工程表） 3.實施標準化-SOP、SIP 4.製程能力分析-良率、Ca、Cp、Cpk 5.管制圖應用-SPC的基本工具 6.問題分析與對策-共同原因、特殊原因 7.製程繼續管制 workshop1 判斷製程是否良好 為了調查SiO2之薄膜製程品質狀態，因此每天收集5片，量測膜厚結果如下。規格是u±3σ＝0.50±0.05,試討論如何表現其製程的品質能力？製程穩不穩定？ 製程品質調查的方式 數值法 以Ca、Cp、Pp、 Ppk 、Cpk、不 良率表示 圖示法 主要以直方圖、管制圖表示 課程內容 SPC 的基本觀念 制程能力 CPk 分析 直方圖 管制圖及其叛讀 X—R，X—S，P，nP，C，U Minitab 繪制 CPk， X—R，X—S，P，nP，C，U 一﹒制程能力的基本概念 1、制程能力﹕ a.對于穩定之制程所持有之特定成果,能夠 合理達成之能力界限 b.一個制程在固定的生產因素及在穩定 管制下的品質能力 2、研究目的﹕ 通過統計方法包括管制圖、直方圖、 次數分配……等手法,設法減少制程中的 變异,或能調整制程,使制程能力符合要 求 或Spec. 4﹒制程能力分析的用途﹕ a.提供資料以便產品的設計; b.驗收一項全新或經過維修之設備 ; c.選擇正确的原材料﹐操作人員或作 業方法; d.調整各生產因素﹐選擇最佳組合; e.尋求