一种光学元件面形三维重建的算法研究.docVIP

一种光学元件面形三维重建的算法研究 　　摘要： 为了在线检测光学元件面形，介绍一种基于线结构光扫描测量和立体视觉测量相结合的三维检测方法，目前这种方法多用于检测高反射率的物体，因此将该方法运用于检测光学元件面形是一种新的尝试。实验的三维重建算法是通过MATLAB和VC++软件共同编写程序实现的，实验结果表明，将这种方法运用于检测光学元件是可以真实还原光学元件三维外貌特性的，所以它的研究具有可行性和研究价值。 　　关键词： 面形检测； 线结构光； 立体视觉； 三维重建 　　中图分类号： TN 247文献标识码： Adoi： 10.3969/j.issn2013.02.010 　　引言随着光学技术的发展，光学元件的应用日益广泛，因此对光学元件的质量检测提出了更严格的要求。针对市场需要实现非接触在线检测的要求，提出一种基于结构光的三维检测方法，目前这种方法多用于检测高反射率的物体，因此将此方法运用于检测光学元件面形是一种新的尝试。基于结构光的三维检测方法对于周围的检测环境要求较低，可用于工厂实现光学元件面形的在线检测。1测量原理本文探究的是基于线结构光扫描测量（光切法）[12]和立体视觉测量（双目立体视觉法）[34]相结合的一种检测光学元件面形的测量方法，测量原理如图1所示。一定模式的结构光投射到被测物表面，相机采集受被测面形调制的光条图像。 　　3