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SPC統計製程管制 劉信泰 2003/7/18 SPC管制圖是一種品質的圖解記錄,在圖上有中心線及 二條管制界限,中心線是表正常時工程平均的所在， 二條管制界限表示產品品質特性的正常變動范圍， 在制造過程中用抽查的方式,將樣本的品質資料點 繪在圖上，用以判斷品質的變異是屬機遇原因或非 機遇原因 管制圖是1924年美國貝爾實驗室的青年物理學家蕭 華特博士(DR.W.A.Shewhart),在研究產品品質特性 之次數分配時所發現. 二、管制圖的種類 類別 名 稱 符 號 管 制 界 限 的 計 算 公 式 用 途 備 注 計 量 值 平均值與 全距管制圖 X-R CLx ＝ UCLx＝ +A2 LCLx＝ -A2 CLR＝ UCLR＝ LCLR＝ 管制可以分組的計量數據即每次可同時取到幾個數據的品質特性（如線徑,伸長率,厚度） 數據100個以上 極差容易計算，且對樣本容量較小的組(尤其是小於9的)較為有效。 平均值與 標準差管制圖 -s s＝ CL ＝ UCL ＝ +A3 LCL ＝ -A3 CLs＝s UCLs＝ LCLs＝ 當數據是由電腦按即時時序自動記錄或描圖時，使用標準差s是過程變異性監控更有效的指標。 使用子組容量較大時，能反映出數據分布的變異。 數據300個以上 計算比較複雜，而且不容易檢查出組內個別特殊的變異 適合長期/大量數據的監控 類別 名 稱 符 號 管 制 界 限 的 計 算 公 式 用 途 備 注 計 量 值 中位數與 全距管制圖 -R CLx ＝ UCL ＝ bar+A2 LCL ＝ bar-A2 CLR＝ UCLR＝ LCLR＝ 由於描繪的是單值的點，可以顯示過程輸出的分布寬度 由於一張圖上可以顯示中位數及分布寬度，所以可用來對幾個過程的輸出或同一過程的不同階段的輸出作比較 樣本容量小於7沒有LCLR 與Xbar-R圖的各項管制線計算一樣，以中位數取代平均值即可 中位數易於應用，適合車間工人在不方便計算的情況下以選擇中位數方式描繪管制點 個別值與移動 全距管制圖 X-Rm Rm＝每組幾個數中最大值—最小值 Rm＝ CLx＝ UCLx＝ +E2 LCLx＝ -E2 CLRm＝ UCLRm＝ LCLRm＝ 1.每批只能測得1個測定值時 2.測定一個值需花很多時間與費用. 3.希望盡早知道不正常原因時. 4.一批內的品質很均勻,幾個測定值沒有意義,只要一點就可以時. 1.計量數據間時間間隔很長,或者無法分組作成 -R圖時. 2.至少25個以上數據  類別 名 稱 符 號 計 算 公 式 (管制界限) 用 途 備 注 計 數 值 不良率管制圖 P CLP ＝ UCLP＝ + 3 LCLP＝ - 3 僅能以良品與不良品之多少 表示品質且每次樣本數不等 時. 產品品質由于某些理由,僅 以量規分為合格與不合格兩 種且樣本數不等時. 可求 法計算統一管 制界限但n﹤ 或 n﹥ 之情形例外. 不良數管制圖 nP CL＝n ＝ ＝ ． ＝ UCL＝n ＋3 LCL＝n - 3 每組樣本數相等時,直接使用 不良個數d做圖 單位缺點數管制圖 U CLU ＝ ＝ UCLU＝ ＋3 LCLU＝ －3 無法直接測定品質特性只能用制品內缺點數代表其品質時. 每次抽取樣本數不等時. 可求 法求位管制界限亦可分別求. 缺點數管制圖 C CL＝ ＝ UCL＝ ＋3 LCL＝ －3 當u管制圖每組之單位數相 同時,可以每組之缺點數C直 接繪管制圖. 三、統計制程管制之系統架構及流程 注:本圖假設測量系統已經 過評價並且是適用的 點繪管制圖的原則 (目的,使管制圖容易整齊劃一有助于資料之整理與研判) 制程名稱,管制特性,測定單位,規格值,機械號,操作者, 測定者,抽樣方法,樣本數,期間等資料需清楚填入,以便 分析整理; 數據之時間應清楚寫出(幾點,上午,下午) CL.UCL.LCL之位數比測定位數多兩位即可; UCL與LCL之距離決定座標,距離一般在20~30mm之間; 所定之座標值宜為2,5,10等之倍數,點圖時方易找到 位置; 座標值宜每大格或兩大格,用筆在左邊標注一次; CL用紅實線,UCL與LCL用紅虛線,不需加注任何數字; 數據根據座標所示位置點繪,點應在數據下之中央,各點 連結;