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集成运放简易测试仪 项目组成员：于志强，刘涛，张国强 指导教师：潘银松，周大秋 项目所属学院：光电工程学院 摘要：本测试仪以ARM7单片机为进程控制和任务调度核心，由测量电路、信号源、键盘、液晶显示器、有效值检波电路等组成。它能对OP07、uA741以及引脚与其兼容的其他集成运放的基本参数如输入失调电压、输入失调电流、共模抑制比、开环增益进行测试和数字显示。信号源采用AD9850芯片，通过DDS（Direct Digital Synthesizer）方法产生高精度，高稳定的Hz基准测量信号 关键词：集成运放参数测量，ARM7 输入失调电压，输入失调电流，共模抑制比，开环增益 1 系统组成 图1 系统框图 集成运放简易测试仪的系统框图如图1所示。该系统由键盘与显示电路、控制电路、运放参数测试电路、信号源电路组成，其中控制电路以ARM7单片机为核心，通过读取按键值控制测试电路的切换，并将测试电路的输出信号通过内置AD读入单片机，进行数据处理，将测试的最终数据显示到显示器上；运放参数测试电路包含输入失调电压、输入失调电流、共模抑制比、开环增益、单位增益带宽测量电路；信号源电路采用AD9850芯片，通过直接数字频率合成（DDS）技术，产生测试信号，送给测试电路。 2 单元电路 2.1 输入失调电压VIO的测量电路 将运放的输入失调电压（VIO）定义为“使输出电压为零（或规定值）时，放大器两输入端间所加的直流补偿电压”由于VIO常为mV级，传统测试设备大都采用“被测器件（DUT，Device Under Test）＋辅助运放”的模式，将mV级的小电压转化为伏级的电压进行测量，测量原理如图2所示。 图2 输入失调电压和输入失调电流测试电路 由于辅助运放U2的作用，整个系统构成一个稳定的负反馈电路，因此，且 （2.1 从式（2.1）中可看出，改变Vs值的大小，可以将DUT的输出电压嵌位在希望值。 若 ，则：， 若S1、S2合闭，则： ； ； （2. 在上述的闭环回路中，DUT工作状态与普通运算放大器无异，这种测试的好处是可以通过外加电源VS，方便地将DUT的输出钳位在规定值，同时由于VIO多为毫伏级，而将VIO放大至伏特级进行测试，对测试设备的要求不高，但受干扰信号影响较大。 输入失调电流定义：补偿失调电压后，使输出电压为零时，流入运算放大器两个输入端的电流差值。 输入失调电流IIO的测量原理如图2所示。 （1）按（2.） （2）断开S1、S2，此时运放的两个输入端，除了失调电压VIO之外，还有输入电流IA和IB在电阻上所产生的电压，即 根据式（2.2） 设S1、S2闭合时测得的VE为VE1， S1、S2断开时测得的VE为VE2，则： （2.3） 开环电压增益AVD的测量原理如图2所示。 S1、S2闭合，有： ； （2.） （2.） 将图2中接入R2的信号源接入Ri的输入端，R2接地，则构成共模抑制比KCMR测量电路，如图3所示。 图3 共模抑制比测试电路 S1、S2闭合，有： 图4 单位增益带宽测试电路 2.5 单位增益带宽测量电路 定义为开环增益为1时所对应的频率，即输出电压与输入电压相等时，该输入信号所对应的频率。 测量电路如图4所示，信号源扫频从200kHz到3MHz，步进1kHz，当输出电压等于输入电压时，此时电路增益为1，此时的信号源的频率即是该运放的单位增益带宽。 2.6 信号源电路 信号源电路如图5所示，该电路包含AD9850芯片，滤波电路，晶振电路。 信号产生要先复位AD9850，然后移位输入32位频率控制字，移位输入6位相位控制字和2位工作模式控制字，最后频率刷新使能。 图5 信号源电路 3 程序设计 主程序流程图及AD转换流程图分别如图6、图7所示。 图6 主程序流程图 图7 AD转换流程图 4 系统测试 4.1测试数据 测试输入失调电压VIO、输入失调电流IIO、共模抑制比KCMR、开环放大倍数AVD 的数据见表1和表2，其中表1是OP07芯片测试数据。表2是uA741芯片的测试数据。 典型值、最大值与测试值的比较见表3。 表1 OP07测试数据 次数 VIO（mV） IIO（nA） KCMR（dB） AVD（dB） 1 0.094 0.47 106 103