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NI TestStand 处理用于航空电子的 老化测试模型 通过修改SPM可 应对更复杂的测试序 列问题。将这个组件 与最新NI TestStand 特性结合，我们能够 针对各类测试要求实 现独特、灵活的解决 方案。 - Robin Lord BEng Hons., Serco Systems Engineering Business Group The Challenge: 为军用航空电子系统 老化提供紧凑的基于 商业现货的测试方 案。 The Solution: 通过NI TestStand 设计并创建老化测试 装置。 Author (s): Robin Lord BEng Hons. - Serco Systems Engineering Business Group Nick Martin BSc Hons. MIEE. - Serco Systems Engineering Business Group 老化测试的对象及策 略 Serco测试系统 公司需要开发一种老 化测试系统，它能够 在生产过程中诱导缺 陷元件在时间及压力 方面失效，以防止致 命问题的征兆在现场 出现。使用最初，系 统由于固有缺陷或生 产相关因素导致的失 效率很高，接下来一 段时间失效率较低， 直到产品接近使用寿 命时失效率又会回 升