颅 脑 断 层 解 剖 颅脑 CT检查方法 颅脑CT检查一般用横断面,扫描基线为眦耳线(眼外眦与外耳道中心的连线)或上眶耳线(眦耳线向后倾20°角),层后8~10mm,连续8~10个层面。 颅脑 MRI检查方法 颅脑常规行横断面扫描,根据病变部位辅以冠状或矢状面,一般中线结构(三脑室、脑干、四脑室)、后颅窝病变辅以矢状面;颅底、桥小脑角及天幕附近病变辅以冠状面。垂体及鞍区结构病变需冠状及矢状面扫描。一般横断面层厚8~10mm,间隔1~2mm;矢状及冠状面层厚4~5mm,垂体微腺瘤或微小听神经瘤需采用薄层扫描,层厚小于等于3mm。 横 状 断 层 解 剖 1.半卵圆中心层面 本断层恰经胼胝体上方,可见大脑半球的髓质形成半卵圆中心,半卵圆中心的纤维主要为有髓纤维,故在MRI T1加权图像上成高信号,在CT图像上成低密度。 CT MRI 1.2 胼胝体干层面 胼胝体干出现于断面的中央。其前部纤维伸向额叶,称额钳;后部纤维弯入枕叶,称枕钳。其前角向前伸入额叶,外侧可见尾状核;后角较长,突向枕叶。 大脑半球内侧面胼胝体以后的部分由前至后依次为扣带回峡、顶枕沟、楔叶、矩状沟和舌回。大脑半球外侧面最突出的变化是出现了外侧沟后支,它均与侧脑室同时出现,有的还高于侧脑室。因此,侧脑室首次
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