5.6 TOFD检测的主要步骤 步骤10:位置传感器校准与扫查增量设置 在检测前进行位置传感器校准:移动扫查装置一段距离,检查仪器所显示的位移与实际位移的误差 扫查增量的控制:扫查增量是指扫查过程中A扫信号间的采样间隔。通常设置为1mm,当工件厚度较大时,可适当增大 5.6 TOFD检测的主要步骤 步骤11:深度校准和盲区测试 深度校准:在工件上或用对比试块校准A扫描时基与深度的精度,深度测量误差一般不大于工件厚度的1%或0.5mm(取较大值) 对余高磨平的焊缝,可在对比试块上测试上表面盲区和底面盲区;对有余高的焊缝,其底面盲区应采用相同尺寸的模拟试块测定 5.6 TOFD检测的主要步骤 步骤12:扫查焊缝 检测时应保持扫查架平稳,探头应沿着扫查线移动 采用非平行扫查、偏置非平行扫查时行走路线与焊缝始终保持平行,不得偏斜 扫查速度要均匀 保证耦合良好 实时通过屏幕监视扫查效果,如发现直通波不直、耦合不良、数据丢失等异常情况,应重新扫查 按照工艺规定进行偏置非平行扫查、横向缺陷扫查等 5.6 TOFD扫查 步骤13:发现缺陷后的进一步探测 当可能存在的缺陷已经被检查出,应进行进一步的检测以获得缺陷更多的信息 可采取的方法包括:改变参数的非平行扫查、偏置非平行扫查、平行扫查或脉冲反射法超声检测 因为缺陷的大致位置已经知道,可针对缺陷改变探头设置,重新优化检测参数 也可采用射线检测复验
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