干涉习题 * * 测表面不平整度 等厚条纹 待测工件 平晶 D 可测量细丝直径、薄片厚度、检查工件平整度等 薄膜干涉的应用 测量直径 下面的待测工件是上凸的 应用:增透(射)膜和增反射膜 基片 镀膜 空气 相机等光学系统中,光因反射而损失严重,为了减少反射增加透射光强,常在镜头外镀一层MgF2 光垂直入射 对某个波长增透即让薄膜上下表面的反射光干涉相消 膜厚至少是多少? 2. 牛顿环 光程差 明纹: 暗纹: . S 分束镜M 显微镜 o 牛顿环 装置简图 平凸透镜 平晶 e r R · ? o 形状 白光入射的牛顿环照片
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