x射線衍射测量残余应力实验指导书.docVIP

X射线衍射方法测量材料的残余应力 实验目的与要求 了解材料的制备过程及残余应力特点。 掌握X射线衍射（XRD）方法测量材料残余应力的实验原理和方法。 了解表面残余应力的概念、分类及测试方法种类，掌握XRD仪器设备的操作过程。 实验基本原理和装置 1. X射线衍射测量残余应力原理 当多晶材料中存在内应力时，必然还存在内应变与之对应，导致其内部结构(原子间相对位置)发生变化。从而在X射线衍射谱线上有所反映，通过分析这些衍射信息，就可以实现内应力的测量。材料中内应力分为三大类。第I类应力，应力的平衡范围为宏观尺寸，一般是引起X射线谱线位移。由于第I类内应力的作用与平衡范围较大，属于远程内应力，应力释放后必然要造成材料宏观尺寸的改变。第II类内应力，应力的平衡范围为晶粒尺寸，一般是造成衍射谱线展宽。第III类应力，应力的平衡范围为单位晶胞，一般导致衍射强度下降。??第II类及第III类内应力的作用与平衡范围较小，属于短程内应力，应力释放后不会造成材料宏观尺寸的改变。在通常情况下，我们测得是残余应力是指第一类残余应力。 当材料中存在单向拉应力时，平行于应力方向的(hkl)晶面间距收缩减小(衍射角增大)，同时垂直于应力方向的同族晶面间距拉伸增大(衍射角减小)，其它方向的同族晶面间距及衍射角则处于中间。当材料中存在压应力时，其晶面间距及衍射角的变化与拉应力相反。材料中宏观应力越