第二章 X射线分析原理及应用.ppt

倒易点阵基本知识 人们在研究晶体对X射线或对电子束的衍射效应时，某晶面{hkl}能否产生衍射的重要条件就是该晶面相对于入射束的取向以及晶面间距d(hkl)。 满足： d(hkl)sin?=n ? ?-入射角 ?-波长 这是满足衍射的必要条件，但不是充分条件。 在X射线衍射分析和电子束显微分析等测试技术中将会用到倒易点阵的知识。 倒易点阵的一个点或一个矢量 代表正点阵的一族晶面。 倒易矢量的长度代表正点阵的晶面间距的倒数， 矢量的方向代表正点阵的晶面的法线。 正点阵的一组二维晶面就可用一个倒易点阵的一维矢量或零维的点来表示。 衍射线的干涉指数 干涉指数与点阵类型 总结 消光规律与晶体点阵 结构因子中不包含点阵常数。因此，结构因子只与原子种类、个数和原子位置有关，而不受晶胞形状和大小的影响。 例如：只要是体心晶胞，则体心立方、正方体心、斜方体心，系统消光规律是相同的。 系统消光分为：点阵消光和结构消光两类 标准数据：ASTM卡片 或 PDF卡片(JCPDS) 对已知的物相进行X射线结构分析，测量其各反射面的面间距和衍射线的相对强度，并制成卡片。 * 　测角仪的光学布置　 图2-43　测角仪的光学布置 　　S为靶面的线焦点，其长轴方向为竖直。入射线和衍射线要通过一系列狭缝光阑。K为发散狭缝，用以限制入射线束的水平发散度。L为防散射狭缝，F为接收狭缝，它们用以限制衍射线束在水平方向的发散度。防散射狭缝尚可排斥不来自试样的辐射，使峰背比得到改善。接收狭缝则可以提高衍射的分辨本领。狭缝有一系列不同的尺寸供选用。 S1，S2为梭拉狭缝，由一组相互平行的金属薄片所组成，相邻两片间的空隙在0.5 mm以下，薄片厚度约为0.05 mm，长约30 mm。梭拉狭缝可以限制入射线束在垂直方向的发散度至大约2°。衍射线在通过狭缝L，S2及F后便进入计数管中。 * b. 辐射探测器及辐射测量电路 辐射探测器作用是接收样品衍射线(光子)信号转变为电(瞬时脉冲)信号。 正比计数器 盖革计数器 闪烁计数器 要求定量关系较为准确的情况下习惯使用正比计数器，盖革计数器的使用已逐渐减少。 除此以外，还有锂漂移硅计数器、位能正比计数器等。 　　　 辐射测量电路是保证辐射探测器能有最佳状态的输出电(脉冲)信号，操作者能够直观读取或记录数值的电子学电路。 目前使用最为普遍 * 3）X射线衍射仪的测量 多晶体研究方法 （二）X射线衍射仪法 a.衍射线强度测定方法 多晶体衍射仪计数测量方法分为 连续扫描和步进(阶梯)扫描两种。 连续扫描法 将计数器与计数率仪相连接，在选定的2?角范围内。计数器以一定的扫描速度与样品(台)联动扫描测量各衍射角相应的衍射强度，结果获得I－2?曲线。 特点：连续扫描方式扫描速度快、工作效率高，一般用于对样品的全扫描测量(如物相定性分析时)。 * a.衍射线强度测定方法 步进扫描法 　　　将计数器与定标器相连接，计数器首先固定在起始2?角位置，按设定时间定时计数(或定数计时)获得平均计数速率(即为该2?处衍射强度)；然后将计数器以一定的步进宽度(角度间隔)和步进时间(行进一个步进宽度所用时间)转动，每转动一个角度间隔重复一次上述测量，结果获得两两相隔一个步长的各2?角对应的衍射强度。 步进扫描测量精度高并受步进宽度与步进时间的影响，适于做各种定量分析工作。 * b.测量参数 狭缝光栏宽度 物相分析时发散狭缝通常选用的狭缝K为1°或0.5°。 防散射狭缝L对峰背比有影响，通常使之与狭缝K宽度有同一数值。 接收狭缝F对峰强度、峰背比，特别是分辨率有明显影响。在一般情况下，只要衍射强度足够，应尽量地选用较小的接收狭缝。 　　　在物相分析中F常选用0.2~0.4 mm，欲提高精度可采用0.15mm。 测量参数包括狭缝光栏宽度、扫描速度、时间常数等。 * b.测量参数 扫描速度 计数管在测角仪圆上连续转动的角速度，以°/min表示。 提高扫描速度，可以节约测试时间，但却会导致强度和分辨率下降，使衍射峰的位置向扫描方向偏移并引起衍射峰的不对称宽化。 物相分析中，常用的扫描速度为1～4°/min。位置敏感正比计数可使速度达到120 °/min 。 时间常数 　　增大时间常数的作用与提高扫描速度的作用是相同的。过低的时间常数使背底的波动加剧，从而使弱线不易识别。 　　物相分析中，常用的时间常数为1-4s。 * 　　衍射仪所用的试样为将粉末压在试样框内制成。粉末粒度约为微米级。过粗的粉末难以成形，且由于照射的颗粒数少，衍射强度变得不稳定。过细的微晶使衍射线宽化、不明说，并可妨碍弱线的出现。试样框大小约为20 mm×