相控阵技术的基础原理.pptVIP

相控阵培训课程 相控阵工作原理 相控阵定义 一种晶片的激发时间可以单独调节，以控制声束轴线和焦点等参数的换能器晶片阵列。 讨论提纲 相控阵能做什么？ 线形, 扇形 动态深度聚焦 线形和 扇形的结合 相控阵基础 波束形成与晶片波束宽度的关系 波束的产生和聚焦 电子扫查 探头不作任何机械移动，而波束沿晶片阵列方向作电子扫查。 通过对激活晶片组进行多路延时，使波束产生移动。 扫查宽度局限于: 阵列中晶片的数量 采集系统支持的通道数量 波束偏转 波束偏转和聚焦 电子扫查 焊缝电子扫查 相控阵焊缝串列扫查 扇形(带方位角的) 扫查 扇形扫查 扇形扫查图例 扇形扫查动画 叶片根部的扇形扫查 扇形扫查和线形扫查结合 将两种扫查结合起来可以得到独特的视图 使用Tomoview 软件使设置更简单 电子/扇形扫查动画 动态深度聚焦动画 相控阵 T.O.F.D. ~线形扫查 相控阵的优点 检测复杂型面 检测速度快 检测灵活性更强 探头尺寸更小 检测难以接近的部位 由于以下因素可以节约系统成本: 探头更少 机械部分少 动态深度聚焦示意图 动态深度聚焦（DDF） 在用一个脉冲检测薄件时十分有效。 波束在返回时重新聚焦 动态深度聚焦 标准的相控阵 动态深度聚焦 DDF 在扫查时不断为接收信号重新载入聚焦法则。 这一操作靠硬件完成, 所以很快。 现在用一个脉冲可以从0聚焦到100㎜