《V系列SERIES可用性存储测试报告》.docVIP

IT V-series可用性 测试报告 目 录 1 测试目的 3 2 测试要求 3 2.1 测试人员和地点 3 2.2 测试环境 3 2.2.1 测试相关设备说明 3 2.2.2 存储光纤网络连接拓扑 3 2.2.2.1 V3020 ＋ EMC CX500 Switch-attached configuration 3 2.2.2.2 V3040A ＋ EMC CX500 Switch-attached configuration 3 3 可用性测试 3 3.1 V3020 + CX500 3 3.1.1 V3020连接CX500可用性测试 3 3.1.2 V3020连接CX500 Syncmirror_local功能测试一 3 3.1.3 V3020连接CX500 Syncmirror_local功能测试二 3 3.1.4 V3020连接CX500 Syncmirror_local功能测试三 3 3.1.5 V3020使用CX500提供的LUN做为root volume 3 3.1.6 CX500 LUN Transpass 3 3.1.7 V3020 FC 端口冗余性 3 3.1.8 SAN Switch 端口冗余性 3 3.2 V3040A + CX500 3 3.2.1 V3040A Cluster 功能测试 3 3.2.2 V3040A 容灾功能测试 3