近代测试技术知识点总结(研究生课程)..docVIP

1、X射线衍射分析（XRD：X-ray diffraction） X射线衍射分析主要用于物相分析和晶体结构的测定。它所获取的所有信息都基于材料的结构。X射线和光相同，是一种电磁波，显示波-粒二相性，但波长较光更短一些。X射线的波长范围0.001--100nm。 连续X射线 　 按量子理论，当能量为eV的高速的电子撞击靶中的原子时，电子失去自己的能量。其中大部分转化为热能。一部分以光子（X射线）的形式幅射出。每撞击一次就产生一个能量为hv的光子。由于单位时间内到达靶表面的电子数量很多，但大多数电子还经过多次碰撞，因此，各个电子的能量各不相同，产生的X射线的波长也就不同。于是产生了一个连续的X射线谱。其中少数电子在一次碰撞中就将能量全部转化为光子，因此它产生的光子能量最大，波长最小。其短波限λ0取决于能量最大电子，并与管压有关。由于X射线的强度取决于光子的数目。所以连续X射线谱的最大值不在λ0的位置。 短波限 特征X射线谱 高能电子把原子的内壳层电子打出，使原子电离，外壳层电子向内壳层电子跃迁，跃迁的能量差转化为一个X射线的光子。由于对一定种类的原子，各层能量是一定的，频率不变，具有代表原子特征的固定波长，故称为特征X射线。特征谱的波长不受管压和管流的影响，只决定于阳极靶材的原子序数。对一定材料的阳极靶，产生的特征谱的波长是固定的，此波长可作为阳极靶材的标志或特征