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第七章光刻

第五章 光刻 Photolithography 光刻是IC制造业中最为重要的一道工艺,占据了芯片制造中大约一半的步骤.光刻占所有成本的35% 集成电路的特征尺寸是否能够进一步减小,也与光刻技术的进一步发展有密切的关系。 通常人们用特征尺寸来评价一个集成电路生产线的技术水平。 光刻的要求 对光刻的基本要求: (1)高分辨率 (2)高灵敏度 (3)精密的套刻对准 (4)大尺寸硅片上的加工 (5)低缺陷 1. 高分辨率 分辨率是将硅片上两个邻近的特征图形区分开来的能力,即对光刻工艺中可以达到的最小光刻图形尺寸的一种描述,是光刻精度和清晰度的标志之一。 随着集成电路的集成度提高,加工的线条越来越细,对分辨率的要求也越来越高。 通常以每毫米内能刻蚀出可分辨的最多线条数目来表示。 2.高灵敏度 灵敏度是指光刻胶感光的速度。为了提高产量,要求光刻周期越短越好,这就要求曝光时间越短越好,也就要求高灵敏度。 4.大尺寸硅片的加工 提高了经济效益 但是要在大面积的晶圆上实现均匀的胶膜涂覆,均匀感光,均匀显影,比较困难 高温会引起晶圆的形变,需要对周围环境的温度控制要求十分严格,否则会影响光刻质量 正光刻胶(Positive optical resist) 负光刻胶(Negative optical resist) 正性光刻胶-Positive Optica

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