SZT-D粉末电阻率测试台操作说明书.docVIP

注意：敬请用户在操作使用SZT-D型半导体粉末电阻率测试台之前，必须详细阅读技术使用说明书！并妥善保存。 SZT-D型 半导体粉末电阻率测试台 (配ST-2258A多功能数字式四探针测试仪) 操作使用说明书 苏州晶格电子有限公司 图2-1 测试台结构部件名称 SZT-D型半导体粉末电阻率测试台操作说明书 一、概述 本测试台参照有关国际标准进行设计，可以对半导体粉末、高分子纳米粉末和固态金属粉末进行电阻、电阻率多用途的测量。 组成及特点：测试台为探头、加压机构、粉末标准容器、压力检测、厚度检测等单元组成。压力机构采用手动操作，压力平稳可调，电子数码显示压力值。本仪器可一边加压同步测试，可方便测试不同压力下粉末的导电性能曲线，也可以单独作为粉末压制成片的工具使用，成片后可脱模取出，用普通四探针法测试相关参数！本仪器具有测量精度高，操作简便、稳定性好，重复性好，一机多用使用方便等特点。 本仪器采用国际通用的电流、电压四端子测量法（两个电流和电压电极同时和样品接触），可以消除电极与导线导通电阻产生的误差，克服了传统的二端测量粉末电阻率仪器的弊病，可以真实地、准确地测量出粉末样品的电阻率，因此重复性好。测试参数时同步检测压力和高度，也是区别于以往旧款同类测试台新特点！便于研究材料的特性曲线！ 本仪器适用于碳素厂、焦化厂、石化厂、粉末冶金厂、高等院校、科研部门、是检验和分析固态和粉态样品质量的一种重要优良工具。二、主要技术指标： 试样粒度：40目以下（标准筛网） 试样容器：内经：Φ11.28mm（S=1.0cm2） 高度：0～20mm可调,带高度尺监测，测量误差：±0.02mm。3、测试压强 标准压强：P0=4Mpa±0.05Mpa，合压力40kg±0.5 kg(S=1.0cm2)。 压强量程：10Mpa, P=0～10 Mpa可调，合压力0～100Kg,(S=1.0cm2)4、压力机构采用手动操作、压力平稳可调。 电子数码显示压力值！四位有效显示数0～200Kg，分别率±0.1 kg！ 5、测试台外形：250mm（前宽）×220 mm（后长）×540mm（总高） 重 量：10Kg 6、测试台结构部件名称如图2-1. 三、操作说明： 1 联机准备 如右图连接SZT-D型半导体粉末电阻率测试台和ST2258A型四探针测试仪，如图3-1A联机操作图。顺时针旋转手轮抬起上电极，测试台压力降到零，露出装料容腔,如图3-1B。 图3-1A联机操作图 图3-1B 2 加料操作 A注备：先摇动手轮使上电极调到较高位置，远离加料腔的工作台面，便于加料。如图3-1B。 图3-2控制加料腔中加料深度 图3-3加料 B调整加料腔深度，控制加料量： 如图3-2，调节深度（料高）调节螺母，同时观察深度尺读数，以控制加料腔中加料深度。注意，深度尺的零位为10.00cm刻度处，如读数为11.00cm,则加料腔深度为1.00cm。深度控制在0.50～2.00cm为宜。 C加料：如图3-3,用所配的小勺子取粉末样品加入加料腔，每次小心适量，直至加满稍溢满，然后用小勺子稍压实、压平，如图3-4,然后用刷子扫净容腔边缘台面上多余样品料，清洁台面。如图3-5。 图3-4压实料 图3-5清洁台面 3 加压操作 逆时针转动手轮，压下上电极。上电极压至台面时样品开始受压，数码压力表显示压力值开始明显上升，如图3-6A, 图3-6B, 图3-6A 加压 图3-6B压力显示 3 读取样品当前高度，求修正系数 如当前压强P=20MPa,即压力值 F=20.0Kg,(S=1cm2)。如图3-6B。如图3-7，读取样品高度为: H=10.50cm-10.00cm=0.50cm=5.0mm 查附表 粉末电阻率测试修正系数表 查5.0mm行和0.0mm列，得修正系数K=2.000 图3-7，读取样品高度 4 设定仪器修正系数，测试样品电阻率值 如图3-8A 仪器在设定档，设定修正系数F=K=2.000,转测试挡，读取电阻率值，如图3-8B.电阻率ρ=10.24Ω-cm. 图3-8A设定修正系数 3-8B读取电阻率值 ***一般行业标准压