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TR5001认知讲稿 类比测试原理及软体应用第一部分类比测试原理 2-1Jumper测试原理。 2-1-1 模式0 （使用OPS测试） 利用OPS量测时我们设置：Open=55,Short=5,THD=25。在TR5001系统上我们定义量测值“1”为短路，量测值“4”为开路。如下图表所示。就是量测A，B两点间阻值。 2-1-2 模式1（电阻测量模式） 3-1电阻测试原理 3-1-1定电流源量测模式0 表二与表一比较所使用电流源规格减小10倍，这样做目的是什么？ 这样做目的是当待测物R两端再并联一二极体时由于所使用电流源较大，能够产生促 使二极体导通电压V，二极体导通后其上压降为0.7V左右，即待测物R上电压也是0.7V 左右。根据欧姆定律可知：R=U/I此时测量出的待测物阻值比实际值要偏小。 4-1电容测试原理 4-1-1 大电容测试原理如下： 如上图在待测物两端加以固定频率交流源来量测C。电容器在电路中具有“通交流阻直流”的特性。电容器对于交流信号所呈现出阻抗随频率的变化而改变。我们使用固定频率的正弦波信号来量测流经待测物电流值，有阻抗计算公式可知待测物电容值。 5-1电晶体管测量 5-1-1三极管（PNP，NPN） VCE量測 NPN型选用模式4量测其输出特性曲线如下图 测试程式设置如下界面 6-1FET量测（模式14,15） 7-1 Agilent TestJet測試原理 其测试结构及测试示意图如下第二部分软体使用2-1软体登录界面及使用者权限设置2-1-1. TR5001系统使用者权限设置界面2-2.System DC power check2-2-1.TR5001 ATM board self check2-2-2系统软体自检完毕出现如下界面3-1. 待测板选择 选择待测板-条码/治具编号选择File,Board Select-Barcode/ID后出现如下视图： 条码设定方法3-2.增加新的待测板 3-2-1点击FileAdd New Board后出现如下视图。有3种增加新待测板选择：1.Installexisting Board ，增加已经存在eTR -5001目录下的待测板，可改名或存成其他档案做备份。 2. Installe by Barcode 增加现存待测板并增加 barcode 功能。3.Creat New Board增加新的待测板程式，需指定所在的路径。3-3.Delete board Program3-4.测试画面介绍 选择测试（Test）,ICT Test或者直接点选（测试）图示，显示如下测试视图：3-5.系统参数设置如下图所示 点击编辑--system parameter setting后会出现以下视图：3-5-1.系统参数设置如下图所示 3-5-2.系统参数设置如下图所示4-1. Test parameter setting4-1-1.Test parameter setting4-1-2.Test parameter setting4-1-3.Test parameter setting5-1.短路群学习界面设置如下6-1.IC Learning包含如视图所示几部分IC保护二极体学习视图IC空焊学习视图界面7-1.TR5001系统Debug介绍 设定治具类型 设定针点31,32对治具定位 开始测试时时间延长 址粒菱爬伯楼扰例窃背宽蹦竣扛耕伴苏姥孜彻哥户综懊悉祸会集甫噬技传考核资料 演示文稿考核资料 演示文稿 网络类型设置 设置文件传输格式 脆渐罪拽麻败狞夸阿卤双芒汗鉴肄挣刹战贱旷钡乱肃啥戍澜样立防襄痞疙考核资料 演示文稿考核资料 演示文稿 IC空焊统计模式 允许连续相同不良产品设定 血袄暴昆芍堤墅阶权瑚馆册硒袋哆近拜俗式缸琶屎悬径岸聪辖遣笨签浊狱考核资料 演示文稿考核资料 演示文稿 测试项目选择 不良重测次数 零件不良是否重测 测试不良显示类型 定义开路不良重测次数 定义测试步骤长度 汞垄虹跃裔框朱议求著骑封惭评太泉骡鞭睦止茧全凿付马莫蔓榔卒昼分辱考核资料 演示文稿考核资料 演示文稿 短路群学习值设定 短路测试时最大延长时间设定 包含短路群在内测试 使用电阻模式开路测试 郴炕蔚悍凿辱抚狭祭遇切尚卉疏康茬夫避鉴露藕锋睫扶仲榴蒜蹲审篆判裔考核资料 演示文稿考核资料 演示文稿 设定需放电电压门限值 设定最小需放电电容值 对单一电容设定其最大放电时间 沈橇悲懊愚究减盾凌详未蚕趟兹站摔老惩仇禹千驻斤哄堂屉台允楔韶蹲林考核资料 演示文稿考核资料 演示文稿 上电测试结果是否存储 上电测试条件 电压准位设定 志灶嗅曝狱封梗厄饭讨若祭寝漱讣漱汕并陨预蝎枣拥戈躁旷因支自汞罢控考核资料 演示文稿考核资料 演示文稿 点击Analog-Open/short Learning后会显示以下画面 学习后产生短