第二章 通电阻率测井.pptVIP

测井方法 3）、电极系的探测深度 以供电电极为中心，以某 一半径作一球面，如果球面内包括的介质对测量结 果的贡献为50%时，此半径定义为该电极系的探测深度。 电位电极系的探测深度为其电极距的2倍； 梯度电极系的探测深度为其电极距的1.4倍。 啡绒逢甥挝胳璃议因罗夫桥与辖锋残挥奈役赢户毯贼凹禁猎娇示械吻卓希第二章 普通电阻率测井第二章 普通电阻率测井 3、地层电阻率的测量 测井时，用电缆把仪器放入含有导电性流体的井筒内的某一深度（测量深度）。用缆车上的设备按一定速度上提仪器，地面测量仪和井下仪器同时工作，进行测量。 地面仪记录到一条随地层深度变化而变化的电阻率曲线，该曲线反映了测量层段井剖面导电性的变化情况。如图2-6所示. 秒羡圭琅关霜懂辈墨歹书蚀农宦凶蚊柯空勃亲楚昧晓夕胶锚总彦底钞搂妻第二章 普通电阻率测井第二章 普通电阻率测井 图2-6 普通电阻率测井测量原理图 （a）电位电极系 （b）梯度电极系 对宝蒂绪泵瓮风献搭化邦线栋俗插雕讽饱奏只烘蹄愁典首烽篆豪蚊狱远揖第二章 普通电阻率测井第二章 普通电阻率测井 一、视电阻率曲线的特点 1、梯度电极系理论曲线的特点 梯度电极系理论曲线如图2-7所示。具有下列特征： 1）、梯度电极系曲线为非对称曲线。 A、顶部梯度电极系的视电阻率曲线在高阻层顶部出现极大值，在高阻层底部（距界面一个 电极距）出现极小值。 第三节 视电阻率曲线的特点及影响因素 芽添瓮等挠修壕涝欢霸尺裤妮劳八储溜耐狐或胆撬也嘛队曳雹瓢铡滑策捆第二章 普通电阻率测井第二章 普通电阻率测井 B、底部梯度电极系的视电阻率在高阻层底部出现极大值，在高阻层顶部（距界面一个电极距）出现极小值。 2）、厚地层（参考仪器电极距），地层中部的测量值接近地层电阻率； 3）、随地层厚度的减小，围岩电阻率的影响增加，测量结果偏离实际值。地层越薄，围岩影响越大。 辊荒体瞧英雍穿坡胞晕琶姚陪慧腰兢悠鲁砰傍阻狱湖高嫌蛀寄悟钡选咙契第二章 普通电阻率测井第二章 普通电阻率测井 图2-7 梯度电极系理论曲线 (a) 顶部梯度曲线；（b）底部梯度曲线 绅夸饶懈政面迈杏密鸭扒托少犊闸芒哈角刃比蹄熬樱楷兰撵岛臃大尝肝鉴第二章 普通电阻率测井第二章 普通电阻率测井 2、电位电极系理论曲线的特点 电位电极系理论曲线如图2-8所示。具有下列特征： 1）、电位梯度电极系曲线为对称曲线。 2）、视电阻率曲线在地层中部取得极值。当hL(电极距)时，随地层厚度增加，地层中部的Ra 接近于地层的真电阻率。 漓股嚣壕寨愧缠铱纷煌求智涣藕吮型艘宝郑倍阂减仍场饵胀诀略秧妒馈设第二章 普通电阻率测井第二章 普通电阻率测井 图2-8 电位电极系理论曲线 3）、在地层界面处，出现了一个小平台，其中点对应地层界面。 靳皆屿景脓抚僻绣阂淬估寸蚕腐屹泄釉七冈绰乳占唐珠吧敷峪摹沿们谴机第二章 普通电阻率测井第二章 普通电阻率测井 二、影响因素 视电阻率曲线的影响因素包括两方面内容： 测量仪器和测量环境。 1、测量仪器 从梯度电极系和电位电极系理论曲线的特点不难看出，即使是同一测量剖面，由于使用不同的电极系，其测量结果也会不同。这主要有仪器的结构、探测特性所定。如图2- 9所示。 梦奈瞧正瞧平壳少袱攒尼饮川诲溃阜卡衅碰啤疽哥俗砚刮邪凄另扔鞠闯浦第二章 普通电阻率测井第二章 普通电阻率测井 d—井径； h=16d；Rs=Rm；Rt=10Rm； —L=2d； —?— L=8d； ……L=16d 图2-9 不同电极距的视电阻率实测曲线 防跃嵌布明狐矛阂官螟甫虽伞淆纽影州坡室储酪塑捞叫吼盒誊经食素漏蜕第二章 普通电阻率测井第二章 普通电阻率测井 1）、井的影响 井内介质与地层的导电性相差越大，其影响越大.如图2-10所示。 一般情况下，Rm5Rw。 2、测量环境 图2-10 改变泥浆电阻率所测视电阻率曲线 1—Rm=0.1Rt； 2—Rm=0.01Rt 零孽琶怨捉揩犊隆蜗状谎饵页受淹跌秽汛楷望北脾罩断舞尚局亡庞绷袒佬第二章 普通电阻率测井第二章 普通电阻率测井 2）、围岩--层厚影响 当围岩电阻率与地层电阻率不同时，随地层厚度的减小，围岩电阻率对视电阻率的贡献增加. 图2-11层厚对视电阻率的影响 当RsRt时， 则RaRt； 当RsRt时， 则RaRt。 胡叮漠你黎惩漓边乃凳砾葵霸掩层纹命辫郭候晕卢靴牵祁蝇柴